판매용 중고 JEOL 6490LV #293671640

JEOL 6490LV는 연구 실험실에 다양한 분석 기능을 제공하도록 설계된 고성능 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 현장 분석, 장애 분석, 회로 분석, 금속학, 3D 이미징 등 다양한 애플리케이션에 상당한 이점을 제공합니다. 6490LV에는 JED 2421 가변 압력/고 진공 장비가 장착되어 있어 높은 진공 및 가변 압력 작동이 가능합니다. 이는 빔 드리프트 (beam drift) 를 줄이고 모든 작동 조건에서 뛰어난 화질을 보장하기 때문에 이미징 및 분석 결과의 정확도를 향상시킵니다. JEOL 6490LV에는 선명한 이미지를 제공하고 더 큰 조리개로 더 큰 시야를 제공하는 낮은 흡수 W 형 필라멘트 검출기가 장착되어 있습니다. 확대 범위는 최대 x500000, 측면 해상도는 3nm이며, 뛰어난 이미징 성능을 제공하며, 개체에 대한 자세한 분석을 가능하게 합니다. 6490LV의 고해상도 설계를 통해 뛰어난 고해상도 이미징을 유지하면서 넓은 영역을 빠르게 스캔할 수 있습니다. 자동 전자 빔 제어 시스템 (Automated Electron Beam Control System) 이 장착되어 있어 사용자가 신속하게 실험, 스캔 매개변수, 이미지 모드를 설정할 수 있습니다. JEOL 6490LV의 검출기 디자인은 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 과 같은 고급 검출 기술을 지원할 수 있습니다. 또한 6490LV에는 디지털 이미징 장치 (digital imaging unit) 가 장착되어 세부적이고 선명한 이미지에 즉시 액세스할 수 있습니다. 전반적으로, JEOL 6490LV는 매우 진보 된 스캐닝 전자 현미경으로, 광범위한 샘플의 정밀 분석을 용이하게합니다. 가변 압력/고진공기, 저흡수 W 형 필라멘트, 자동화된 전자 빔 제어 도구 등 많은 유리한 기능을 통해 효율적인 SEM 애플리케이션을 위한 내구성과 신뢰성 있는 툴이 됩니다.