판매용 중고 JEOL 5310 #9200586

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ID: 9200586
Scanning electron microscope High vacuum operation: With diffusion pump & roughing pump HASKRIS Water chiller included for diffusion vacuum pump With diameter 10 ft water interconnect hoses Polaroid film camera With digital camera system similar to astronomical camera Basic technical & mechanical parameters: Magnification: 35x - 200000x Working distance: 8 mm to 48 mm Specimen size: Diameter: 72 mm (Maximum) Height: 40 mm (Maximum) Specimen goniometer stage: X, Y, Z, Rotation Control: Manual X-Y: 38 mm x 70 mm Tilt: -10° to ~+70° Rotation: 360° Operates on 120 VAC Console measures: Length: 62 Depth: 30 Height: 48 OXFORD Energy dispersive X-ray spectroscopy Includes: Manuals Hardware / Cabling Tran slink Electron gun filaments Basic PC's are included with adaptors & cables Not included: Software Power: 0.5 kV to 30 kV.
JEOL 5310은 다양한 연구 목적으로 사용될 수있는 고성능 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. SEM은 단일 및 이중 빔 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS 및 EBSD) 모두에 적합합니다. 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 기능과 종합적인 분석 외에도, 이 기기는 광범위한 재료를 조사하는 데 적합합니다. 5310 SEM의 방출 전류는 0.05 ~ 5 나노 암페어 및 넓은 다중 2 차 전자 감지 범위를 갖는다. 전류 조절 노브 (heavy currenting knob) 와 포트 확장 (port extension) 을 통해 다양한 기능을 감지하고 정량화할 수 있습니다. 가속 전압은 2, 3, 5, 8, 10, 15, 20 및 30 KV입니다. 이 SEM은 다양한 이미지 처리 및 분석을 위해 픽셀 및 라인 스캔 이미지 기록 (pixel and line scan image recording) 에도 사용할 수 있습니다. "셈 (SEM) '을 안정적으로 작동시키기 위해 빠른 변화를 감지할 수 있는 자동 조정 (auto tune) 시스템이 장착됐다. 따라서 사용자는 현재/실시간 이미지 품질, 이미지 경로 (image path) 와 연락을 유지할 수 있습니다. JEOL 5310의 최대 해상도는 0.25 나노 미터 (큰 시야는 3.8cm x 3.8cm) 인 반면, 총 6 개의 다른 목적 렌즈를 지원하는 개선 된 전자 광학 시스템이 특징입니다. 5310은 편광 필터, 초승달 필드 (crescent field), 다양한 유형의 검출기 (detector) 와 같은 다양한 액세서리를 제공하여 사용자가 그에 따라 기계를 구성할 수 있습니다. JEOL 5310의 분석 기능에는 질적, 정량적 분석을위한 EDS 및 EBSD와 원소 매핑 및 라인 스캔을위한 STEM이 포함됩니다. 특수 저전압 탐지기 (low voltage detector) 의 전류 추가는 표준 SEM (standard SEM) 으로 달성 할 수있는 것보다 짧은 가속 전압에서 매우 높은 해상도의 이미지를 얻을 수 있습니다. 마지막으로, 5310에는 스캐닝 전자 현미경, STEM 이미징 및 전자 회절을 포함한 기존의 이미지 처리 및 이미지 분석을위한 소프트웨어 패키지가 있습니다. 따라서 JEOL 5310은 재료 연구, 특히 생체 미네르 화 및 나노 구조 물질을 연구하기위한 완벽한 도구입니다.
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