판매용 중고 JEOL 5310 #9071905

JEOL 5310
ID: 9071905
Scanning Electron Microscope (SEM) Tungsten Spare parts.
JEOL 5310 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 연구 및 산업용으로 설계된 고성능, 컴팩트 한 현미경입니다. 이 SEM은 고해상도 이미징 기능과 고급 분석 기술을 결합하여 최적화된 이미징 환경을 제공합니다. 5310은 뛰어난 심도 프로파일링 및 이미징 (imaging) 을 위한 넓은 심도 (depth-of-field) 를 갖추고 있어 작은 개체의 명확한 이미지를 캡처하거나 복잡한 구조를 만들 수 있습니다. 이 장치의 SEIS (Secondary Electron Imaging Equipment) 는 높은 이미지 명암과 부드러운 이미지 균일성을 보장합니다. 이 시스템은 또한 샘플 (sample) 구조 내에서 깊은 곳에서 신호 정보를 캡처할 수 있으며, 복합 재료를 사용한 경우에도 뛰어난 해상도를 제공합니다. 현미경에는 시편의 지형 및 조성에 대한 정보를 제공하는 인 렌즈 검출기 (in-lens detector unit) 가 장착되어 있습니다. 이 기능은 자동 초점 장치 (auto-focusing machine) 와 결합하여 정확한 측정과 정확한 이미징을 보장합니다. SEM의 자동 초점 도구 (auto-focusing tool) 는 샘플 서피스 이동 및 입자 동작을 보상 할 수도 있습니다. JEOL 5310의 또 다른 특징은 고속 스캐닝 및 저소음 성능입니다. 즉, 높은 해상도의 이미징 창을 유지하면서 구입 시간이 단축됩니다. 이 자산은 또한 quanta 분석을위한 광범위한 분석 기술을 제공합니다. 5310은 산업, 학술 및 연구 응용 분야에 이상적인 선택입니다. 이 제품은 재료 분석, 장애 분석, tribology, metallography 등 다양한 애플리케이션을 위한 강력한 플랫폼을 제공합니다. 직관적 인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 자동화된 기능을 갖춘 이 현미경은 정확한 이미지를 신속하게 캡처할 수 있게 해 줍니다. 삼성전자 (SEM) 의 강력한 이미징 기능은 고급 분석 (analytical) 기술과 결합하여 다양한 업종을 위한 귀중한 도구다.
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