판매용 중고 JEOL 35S #9375350

JEOL 35S는 심도가 크고 해상도가 높은 이미징 기능이있는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기구 는 시야 가 넓으며, 명암비 가 높은 "이미지 '를 제공 해 주며, 이" 이미지' 는 정확 한 측정 과 분석 에 사용 될 수 있다. 검출 시스템 (Detection System) 은 감도가 높고 소음 바닥이 낮아 샘플 기능 및 크기에 대한 정확한 추정치를 제공합니다. 이 시스템은 전도성 (conductive) 및 비전도성 (non-conductive) 재료를 포함한 다양한 샘플 유형을 수용할 수 있으며, 광범위한 이미징 기능을 제공합니다. 35S의 디자인은 아포크로매트 (Apochromat) 유형 인 니켈/포스 포 (Nickel/phosphor) 로 만든 열 렌즈를 기반으로하며, 최대 해상도를 위해 제작되었습니다. 또한 미세 분석 중에 열 왜곡을 생성하지 않으며, 모든 배율에서 높은 강도를 제공합니다. JEOL 35S의 1 차 전자 소스는 다양한 환경에서 작동 할 수있는 텅스텐 필드-방출 건 (tungsten field-emission gun) 입니다. 1 ~ 30kV의 빈 가속 전압 범위는 이미징을 위해 넓은 동적 범위를 제공합니다. 총은 백그라운드 (background) 의 낮은 소음을 제공하여 작고 상세한 샘플의 이미지를 찍을 수 있습니다. 35S의 검출기는 열 내 디플렉터와 고리 형 밝은 장 (ABF) 검출기로 구성된 12 개의 2 차 전자 (SE) 검출기의 배열입니다. ABF 검출기는 다양한 배율로 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 을 제공하는 반면, 디플렉터는 비전도 표면 이미지의 대비를 향상시킵니다. 백 스캐터 전자 검출기 (BSED) 및 카토 돌 발광 검출기 (CLD) 를 포함한 추가 검출기를 사용할 수 있습니다. JEOL 35S에는 X, Y 및 Z 축의 샘플을 정확한 위치 지정을 위해 이동 할 수있는 동력 단계가 장착되어 있습니다. "마이크로스코프 '용" 소프트웨어' 는 사용 하기 쉽고, 자동 초점, 명암비 향상, 고급 이미지 처리 기능 을 갖추고 있다. 35S는 또한 전자 마이크로 프로브를 사용하여 미세 분석에 사용될 수 있습니다. 이미징 외에도 원소 조성을 측정하기 위해 에너지 분산 X- 선 (EDS) 및 파장 분산 X- 선 (WDS) 분광법을 지원합니다. 전체적으로, JEOL 35S는 고해상도 이미징 기능을 가지고 있으며, 다양한 샘플 유형에서 정확한 이미지를 캡처할 수 있습니다. 열 내 (in-column) 및 환형 (annular) 검출기를 수용하는 능력은 다른 응용 분야에 적합합니다. 또한, 소프트웨어 기능 및 샘플 조작의 유연성 (Flexibility of Sample Manipulation) 은 모든 실험실에서 매우 안정적이고 귀중한 도구입니다.