판매용 중고 JEOL 35 #9044656

JEOL 35 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 샘플 표면의 세부 사항을 관찰하기 위해 전자 빔을 사용하는 고성능 장비입니다. "에너지 '분석기 장비 는" 빔' 의 강도 를 조정 하여 최적 의 "이미지 '대비 를 이루는 데 반해 전자" 빔' 의 축 은 정전기 "렌즈 '의 사용 을 통하여 표본 에 초점 을 맞추고 있다. 이 샘플은 탑로드 (top-loading) 단계에 위치하며 3차원 제어로 조작하여 이미징을 위해 원하는 영역을 적절히 정위할 수 있습니다. 35 SEM은 2 차 전자 탐지기, 백스캐터 전자 탐지기, 자동 일반 정보 시스템, 3D 이미징 및 분석을위한 EDS® 틸트 탐지기 등 다양한 기능과 액세서리를 제공합니다. 이 최첨단 장비는 또한 사용자가 다양한 재료를 제대로 검사하기 위해 특수 샘플 준비 (special sample preparation) 기술을 사용할 수 있도록 해줍니다. 이러한 기술 중 두 가지 (Cs-corrected imaging 및 low-vacuum SEM) 는 전도성, 취약성 또는 전도성이 낮은 샘플을 처리하기위한 것입니다. JEOL 35 SEM의 최대 해상도는 1.4nm입니다. 또한, 그 작동은 매우 조용하고 진동이 적으며, 주변 환경은 분광학 분석에 적합합니다. 운영 및 환경 조건은 운영 장치 (Operating Unit) 와 유지 보수 부품 (Maintenance Component) 에서도 쉽게 사용할 수 있도록 설계되었습니다. 따라서 가동 중지 시간이 상당히 줄어 듭니다. 35 SEM은 안정성이 뛰어난 고성능 기기로, 최고의 안전 표준을 보장하면서 뛰어난 해상도를 제공합니다. 또한, SEM의 정교한 이미징 머신은 다양한 분석 요구 사항에 맞게 쉽게 구성할 수 있습니다. JEOL 35 SEM은 뛰어난 기능을 통해 획기적인 연구와 혁신의 토대를 마련했습니다.