판매용 중고 JEOL 35 #126386

JEOL 35는 다양한 샘플의 고정밀 이미징 및 분석을 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 넓은 시야각 (field-of-field), 심도 (depth-of-field), 해상도 (resolution) 의 성능을 갖추고 있으며 원본 크기의 2000배까지 확대할 수 있습니다. 견고한 설계로 인해 금속, 도자기, 폴리머, 유기물 등 다양한 재료의 이미징 샘플에 적합하고 안정적입니다. 35 에는 빠른 샘플 이미징 및 분석 기능을 제공하는 저진공 (low vacuum) 모드가 장착되어 있습니다. 0.5 ~ 5 나노-암프 (nano-amps) 의 높은 1 차 빔 전류로 정확한 샘플 크기 제어가 가능한 필드 방출 건 (field emission gun) 시스템이 장착되어 있습니다. 이를 통해 다양한 배율로 이미징을 수행할 수 있어 시야와 해상도를 극대화할 수 있습니다. SEM에는 2 차 전자 검출기 (secondary electron detector) 와 후면 흩어진 전자 검출기 (back scattered electron detector) 를 포함한 다양한 검출기 시스템이 장착되어 이미지 대비를 높이고 초점 깊이를 개선했습니다. JEOL 35 는 자동화된 스테이지 시스템과 연동하여 샘플의 여러 영역에 대한 정확한 샘플 포지셔닝 (positioning) 과 정확한 탐색 (navigation) 을 가능하게 합니다. 스테이지는 280mm x 280mm의 최대 이동 범위를 제공합니다. 또한 최대 크기가 800mm x 800mm 인 큰 표본 챔버 (simimen chamber) 를 특징으로하여 큰 샘플을 이미징 할 수 있습니다. 세엠 (SEM) 은 검출기와 전자광학 (Electron Optics) 의 데이터를 결합하여 추가 분석을 위해 샘플의 디지털 이미지를 만드는 고속 디지털 이미징 시스템으로 구동됩니다. 35에는 이미지 개선, 조작 및 분석을위한 혁신적인 소프트웨어도 포함되어 있습니다. 이미지 분할 (image segmentation), 스펙트럼 분석 (spectral analysis), 선 프로파일 통합 (line profile integration) 등의 기능을 제공하는 통합 기능입니다. 이 소프트웨어를 사용하면 정확한 측정, 데이터 분석, 3D 모델 생성 등의 작업을 수행할 수 있습니다. JEOL 35 는 사용자가 정확한 측정을 하고, 복잡한 데이터를 분석하고, 이미지를 조작하여 샘플에서 최대 양의 정보를 추출할 수 있도록 설계되었습니다. 다목적 디자인, 견고성, 고성능 기능으로 인해 재료 과학, 광물학, 지질학 등 다양한 분야에 이상적인 이미징 툴이 됩니다.