판매용 중고 JEOL 2011 #293635455
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ID: 293635455
빈티지: 2001
Transmission Electron Microscope (TEM)
LaB6 Electron source
DP Vacuum system
HR Pole piece
OXFORD INCA 30 mm²
LN2 Detector
GATAN 622 TV Camera
GATAN 646 Double tilt holder and controller
Single tilt holder
Power supply: 80-200 kV
2001 vintage.
JEOL 2011은 우수한 성능 능력을 갖춘 주사 전자 현미경 (SEM) 이며 나노 과학, 생명 과학, 공학 분야의 응용 분야에 적합합니다. 전자 현미경 기술의 세계적인 리더 인 JEOL (JEOL) 이 제작했으며 2010 년에 출시되었습니다. 2011 년은 사용자에게 다양한 기능과 이점을 제공합니다. 고속, 고해상도 이미징, 에너지 선택적 역산포 전자 탐지 장비에 이르기까지 JEOL 2011은 과학자와 엔지니어들에게 샘플 표면 및 구조를 특성화하고 분석하기위한 강력한 도구를 제공합니다. 2011 년에는 FEG (Field Emission Gun), 렌즈 내 검출기 및 2.5nm 주사 나선 렌즈로 구성된 전자 기둥이 장착되어 있습니다. 이 최적화 된 전자 광학 시스템은 최대 해상도 0.9nm의 고해상도 이미징을 허용합니다. JEOL 2011에는 초당 최대 200개의 이미지를 스캔할 수 있는 고속 이미징 장치도 있습니다. 이 향상된 이미징 속도를 통해 고속 현상 또는 빠른 물리적 프로세스를 캡처할 수 있습니다. 2011 년은 이미징 머신 외에도 다양한 분석 기능을 제공합니다. BSE (energy-selective backscattered electron) 검출기는 사용자가 나노 스케일의 재료 구성 및 지형의 차이를 감지하고 측정 할 수 있도록 해줍니다. JEOL 2011에는 ETD (everhart-thornley) 및 SIL (solid immersion lens) 검출기가 포함되어 있으므로 표준 BSE 검출기를 사용하여 가능한 것보다 훨씬 높은 해상도의 이미지를 생성 할 수 있습니다. 마지막으로 2011 년에는 다양한 자동 기능 및 도구가 내장되어 있습니다. 여기에는 현미경 (microscope) 뷰 영역의 효율적인 포지셔닝을 위한 자동화된 탐색 툴과 자동화된 이미지 향상 (image enhancement) 및 분석 알고리즘 (analysis algorithm) 이 포함됩니다. 전반적으로 JEOL 2011은 첨단 스캐닝 전자 현미경으로, 연구원과 엔지니어들에게 나노 스케일 구조와 표면의 고해상도 이미징 및 분석을위한 포괄적 인 플랫폼을 제공합니다. 정교한 전자 광학 자산과 자동화된 기능을 갖춘 2011 년 (2011 년) 은 사용자에게 전자 현미경을위한 최고의 플랫폼을 제공합니다.
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