판매용 중고 JEOL 2010F #9283823

JEOL 2010F는 많은 산업에서 다양한 어플리케이션에 이상적인 사용자 기능을 제공하는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기기는 다양한 고급 (advanced) 기능을 갖추고 있으며, 숙련된 사용자와 초보자 모두 관찰을 위해 샘플을 빠르고 쉽게 준비 할 수 있습니다. 이 장치는 챔버 크기가 커서 더 큰 샘플을 관찰 할 수 있습니다 (직경 최대 12cm). 고광도 FEG가 장착되어 있어 초점, 명암비, 해상도가 우수합니다. 자기가 아닌 고속 스위칭 폴리피스 (polepiece) 기술은 높은 수준의 성능을 제공하여 선명한 이미지와 높은 스테레오 각도를 생성합니다. 이 장치에는 2 차 및 백스캐터링 된 전자 검출기를 포함한 포괄적 인 범위의 검출기가 포함됩니다. 4 사분면 역 산란 전자 검출기는 고해상도 이미지를 생성하며, 작은 물체를 측정하는 데 사용될 수있다. 또한 고체 각도가 큰 2 차 전자 검출기를 가지고 있으며, 뛰어난 효율성과 감도를 제공합니다. 이 시스템은 또한 여러 분석 기능을 자랑하며, 다수의 애플리케이션에 적합합니다. EDX (Energy Distersive X-ray) 검출기는 샘플의 구성 및 두께에 대한 정보를 제공하므로 샘플에 존재하는 요소를 식별할 수 있습니다. EBSD (electron backscattered diffraction) 검출기는 고급 결정학에 이상적이며, 개별 곡물 및 박막에서 원자 구조, 방향 및 균주를 분석 할 수 있습니다. JEOL 2010 F는 다양한 자동 기능을 제공하여 사용자 친화적입니다. 자동 기능을 사용하여 실험을 신속하게 설정하고, 사용자의 시간과 노력을 절감할 수 있습니다. 또한 스캐닝 전자 빔 제어 (scanning electron beam control) 를 통해 사용자가 샘플을 정밀하게 이동하거나 스캔 할 수 있습니다. 마지막으로 자동화된 디지털 전자 장치는 뛰어난 중간 해상도를 제공합니다. 2010F는 뛰어난 주사 전자 현미경으로, 광범위한 응용 분야에 적합합니다. 첨단 기능과 자동화된 기능을 갖춘 이 제품은 전문가용 (Professional) 과 초보형 (Novice) 사용자 모두에게 이상적인 도구입니다.