판매용 중고 JEOL 1200EX #9172470
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판매
ID: 9172470
빈티지: 1987
Transmission electron microscope (TEM)
Resolution:
Lattice image (Resolution, nm): 0.14
Point to point (Resolution, nm): 0.3
Electron gun:
Bias voltage: Continuous
Filaments: Tungsten or LaB6
Power: 200 / 220 / 240 VAC
Accelerating voltage: 10-120 kV
Photographic system:
Camera: Sheet, 35 or 70 mm roll
Film size: 8.3 x 10.2 cm (in)
(50) Exposures / (50) Cassettes (playback type)
Film desiccator: Yes
Alignment (Magnification) vacuum: Yes
Type: Cascade diffusion
Rotary pump cap: 100 L/min
Diffusion pump cap: 400 L/sec
CRT Display (Accelerating): Yes
Lens:
Type: 5-Stage
Focal length: 2.5 mm
PC: No
Com-port for PC control: No
Includes:
(2) Turbo molecular pumps
TCP 380 Turbo molecular pump controller
SIP Ion getter pump
(1) Rotary pump
(2) Oil diffusion pumps
Inner and outer pipe
Water hoses column
DP
Lens gate
Currently de-installed
1987 vintage.
JEOL 1200EX는 재료 과학, 생물학 및 지질학과 같은 분야에서 다양한 이미징 및 분석 작업에 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. SEM은 전자 빔 (electron beam) 을 사용하는데, 이는 미리 정의 된 패턴으로 샘플 표면을 가로 질러 집중되고 스캔됩니다. 이 기술은 매우 높은 배율로 샘플 표면의 이미지를 생성합니다. JEOL 1200-EX는 최대 30 kV의 가속 전압으로 최대 1.2 nm의 해상도로 이미지를 생성 할 수 있습니다. 또한, SEM 은 고해상도 이미징을 제공하는 것 외에도 원소 및 형태 학적 정보를 제공하는 2 차 전자 (SE) 검출기를 갖추고 있습니다. 이를 통해 SEM은 미세 구조 특성화 및 표면 토폴로지 분석에 적합합니다. 1200 EX에는 4 세그먼트 필드 배출 총이 장착되어 있습니다. (FEG) 는 2 차 전자 이미징과 같은 다양한 용도로 제작 된 모드에서 이미징, 분석 및 분광을 가능하게하는 하이 플럭스 (high-flux) 및 로우 노이즈 (low-noise) 전자 빔을 모두 생성 할 수 있습니다. (SEI), 2 차 전자 신호 분석 (SESA), 역산포 전자 영상 (BSEI), 역산포 전자 신호 분석 (BSESA), 전자 빔 자극 발광 (EBSP) 및 역산포 파 영상 (BWI). JEOL 1200 EX는 또한 샘플 표면에 다른 원소의 존재 및 농도를 감지하는 에너지 분산 분광학 (EDS) 과 같은 분석 표면 화학 측정을 수행 할 수있다. 또한, SEM은 공기 중 이온 빔 실험에 필요한 안정적인 환경 조건을 제공하도록 설계된 개선 된 표본 챔버를 가지고 있습니다. 1200-EX SEM은 나노미터 규모로 복잡한 시스템과 샘플을 이미징 할 수있는 강력한 도구입니다. 고해상도 이미징 (high resolution imaging), 원소 및 형태 학적 분석, 미세 구조 특성화 및 표면 화학 측정의 조합으로 다양한 응용을위한 강력한 도구가됩니다.
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