판매용 중고 JEOL 100CX #9096279

JEOL 100CX
ID: 9096279
Transmission Electron Microscope (TEM).
JEOL 100CX 스캔 전자 현미경 (SEM) 은 다재다능하고 모든 기능을 갖춘 분석 도구입니다. 리서치 애플리케이션과 산업 애플리케이션 모두를 위한 비용 효율적인 솔루션입니다. 100CX는 특수 제작된 진공실 (vacuum chamber) 과 환경실 (environmental chamber) 로 설계되어 있어 높은 수준의 화질과 최대 유연성을 제공합니다. 이 장비에는 냉음극 전자총, 3 단계 콘덴서 렌즈, 이중 빔 난시 주사 시스템이 장착되어 최대 성능을 제공합니다. 이 단위는 최고 해상도 이미징 뿐만 아니라 원소 및 동위 원소 분석을 가능하게합니다. JEOL 100CX는 HVS (High Vacuum Scanning), LVS (Low-Vacuum Scanning) 및 VPS (Variable Pressure Scanning Mode) 를 포함한 다양한 이미징 기능을 제공합니다. HVS는 고대비 이미징에 이상적이며, LVS는 비전도 표본의 이미징에 가장 적합합니다. 또한, VPS는 분석 깊이가 최대 7 분 인 다양한 코팅 이미징에 사용할 수 있습니다. 100CX는 또한 에너지 분산 분광법 (EDS) 및 파장 분산 분광법 (WDS) 기능을 제공합니다. 이를 통해 원소 컴포지션 매핑 및 분석 및 21 nm 직경으로 요소를 식별 할 수 있습니다. 또한, 이 기계에는 전하 빌드 업을 줄이고 해상도를 향상시키는 쇼트 키 (Schottky) 필드 방출 전자원이 장착되어 있습니다. 이 도구에는 기능을 극대화하기 위해 여러 가지 다양한 기능이 있습니다. 예를 들어, 빔 변이체 (beam variator) 는 샘플 서피스에서 최대 ± 55 ° 까지 빔을 기울일 수 있으며, "동적 초점 (dynamic focus)" 기능은 이미지 해상도를 향상시킵니다. "라우드 스피커 모드" 기능은 또한 해상도를 높이고 비 전도성 샘플의 대비를 향상시킵니다. 전반적으로, JEOL 100CX는 광범위한 이미징 및 분석 응용이 가능한 강력한 스캐닝 전자 현미경입니다. 리서치 애플리케이션 (Research Application) 과 산업 애플리케이션 (Industrial Application) 모두에 적합한 다목적 설계와 기능을 제공하여 사용자에게 고객의 요구에 적합한 솔루션을 제공합니다.
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