판매용 중고 JEOL 100 / 200 Series #9192825

JEOL 100/200 시리즈는 다양한 연구 응용을 위해 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 100/200 시리즈에는 높은 자기장 방출 스캐닝 전자 현미경이 장착되어 있어 고해상도 이미징 (high resolution imaging) 및 1 nm 정도의 작은 구성 요소 분석이 가능합니다. 미세 구조 분석, 표면 형태 관찰 및 분석, 조성 매핑 (compositional mapping) 과 같은 응용 분야에 특히 적합하며, 연구자들은 나노 스케일 물체의 모양과 크기를 명확하게 관찰 할 수 있습니다. JEOL 100/200 시리즈에는 에너지 분산 X 선 에너지 분광계가 장착되어 분석된 입자의 구성을 분석하고, 입자의 정확한 요소 구성 매핑, 재료 분석 등이 가능합니다. 또한, 100/200 시리즈는 나노 구조를 구축하는 데 사용되는 전자 빔 리소그래피를 수행 할 수도 있습니다. 최대 1 nm 크기의 빔으로 샘플 표면에 패턴을 제작하여 나노 스케일 (Nanoscale) 구성 요소를 제조 할 수 있습니다. JEOL 100/200 시리즈는 전용 워크스테이션을 통해 제어되므로 SEM을 직관적으로 조작할 수 있습니다. 100/200 시리즈는 작은 구성 요소에 대한 연구 및 분석을 수행하는 효과적인 도구입니다. 고해상도 이미징, 정확한 에너지 분산 X- 선 분광법, 고해상도 전자 빔 리소그래피 (lithography) 를 통해, 물체의 구조와 조성을 1 나노미터 (nanometer) 정도 정확하게 매핑할 수 있습니다. 그렇지 않으면, 구조와 성분을 관찰하고 연구 할 수 있습니다.