판매용 중고 JAM JSM 7000F #9260023

JAM JSM 7000F (Scanning Electron Microscope) 는 다양한 연구 설정에서 표면 특징과 작은 샘플의 구성에 사용되는 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 기기는 원자 수준에서 매우 고해상도 이미지를 생성 할 수 있습니다. 다양한 기능을 통해 다양한 애플리케이션에 적합합니다 (영문). JSM 7000F의 유효 샘플링 면적은 11 cm2이며 해상도는 0.2 ~ 50 nm입니다. 가속 전압은 최대 10 kV이며, 이는 선명한 이미징과 높은 감도를 허용합니다. 현미경에는 또한 렌즈 내 전자기장 (EMF) 검출기가 장착되어 있으며, 이는 저에너지 신호의 검출을 개선하고 소음을 줄입니다. 빔 전류 (Beam Current) 도 조절이 가능하여 사용자가 매우 높은 명암과 디테일을 가진 이미지를 얻을 수 있습니다. 현미경은 또한 축, 수동 조절 가능한 2 단계 자기 렌즈 시스템을 특징으로하며, 최대 해상도와 적절한 이미징 결과를 얻을 수 있습니다. 또한, 스캐닝 래더 시스템을 사용하면 배율 설정이 다른 여러 이미지를 동시에 얻을 수 있습니다. 이 시스템은 또한 신호 획득 (signal acquisition) 의 스캐닝 속도와 지속 시간을 제어하는 데 사용할 수 있습니다. JAM JSM 7000F에는 ASE (Automated Simplimen Exchange) 기능이 장착되어 있어 표본을 빠르고, 정확하며, 한 소지자로부터 다른 표본으로 안전하게 교환 할 수 있습니다. ASE는 공기 또는 액체 냉각 기술이 모두 필요한 표본에 사용될 수 있습니다. 이 기능을 사용하면 다양한 유형의 요소와 재료 컴포지션을 분석할 수도 있습니다. 내장 검출기는 밝거나 어두운 필드에서 이미지를 만들 수 있습니다. 또한, 전자 역 산란 회절 (EBSD) 탐지기 (diffraction) 를 사용하여 이미지를 처리 및 분석하여 연구원들이 각 샘플의 결정 학적 방향을 이해할 수 있습니다. 전반적으로 JSM 7000F는 독보적인 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 전자빔 조사 및 자동 표본 교환 기능과 고해상도 이미징 (high resolution imaging) 을 줄였습니다. 이것은 다양한 연구 환경에서 작은 샘플을 분석 (analysis) 하는 데 가장 적합한 선택입니다.