판매용 중고 ISI SX 40 #9114412

ID: 9114412
웨이퍼 크기: 5"
Scanning electron microscope Motorized stage, 5".
ISI SX 40은 다양한 산업, 의료 및 연구 응용을 위해 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 최첨단 전자 광학을 통해 저진공 및 고진공 상태에서 뛰어난 이미징 성능을 제공합니다. 기록 된 해상도는 1.2nm @ 30kV 및 3nm @ 30kV이며, 샘플을 스캔 할 때 매우 높은 수준의 세부 사항으로 변환됩니다. ISI SX40은 2 차 및 백스캐터링 된 전자 영상을 모두 사용할 수 있습니다. 즉, 다양한 샘플 구성 요소를 감지 할 수 있습니다. 보조 전자는 표면 요소에 대한 정보를 공개하는 반면, 역 산란 된 전자는 샘플 구성 및 위상에 대한 정보를 제공합니다. SX 40은 또한 샘플의 에너지 분산 x- 선 분광법을위한 옵션 인 라인 EDS 시스템을 가지고 있습니다. 이를 통해 샘플의 다른 원소 구성을 분석 할 수 있습니다. SX40은 수동적 조정이 필요하지 않고 축 X, Y 및 Z를 따라 마이크로미터 이동을 통해 3 µm - 5 유로의 스테이지 영역 위치 정확도를 갖습니다. 정확한 샘플 분석을 위해 다양한 명령 및 설정 조정이 가능한 ISI RoboInvestor 소프트웨어 제품군을 통해 제어 할 수 있습니다 (영문). 여기에는 자동 디플렉터 및 스캔, 조정 가능한 전압 교정, 실시간 스캔, 이미지 캡처 및 비교가 포함됩니다. ISI SX 40에는 자동 샘플 체인저 (sample changer) 가 있어 최대 250 개의 샘플을 빠르고 쉽게 스왑 및 분석할 수 있습니다. 또한 샘플 이미지를 관찰 할 때 확장 된 시청 세션을 위해 인체 공학적으로 설계된 9 인치 뷰 포트 (viewport) 가 있습니다. 전반적으로 ISI SX40은 강력하고 신뢰할 수있는 스캐닝 전자 현미경입니다. 다용도, 손쉬운 설치, 정확한 성능을 통해 업계/연구 요구 사항을 완벽하게 충족할 수 있습니다.
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