판매용 중고 ISI SX 40 #187345

ISI SX 40은 높은 수준의 미세 구조 분석을 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. ISI SX40은 전자 상 대비를 사용하여 미세 구조를 자세히 관찰 할 수 있습니다. 현미경은 최대 15,000X까지 배율 할 수 있습니다. 고해상도 전자 거울 (electron mirror) 이 특징으로, 이미지의 왜곡을 줄이고 표본의 명확하고 선명한 이미지를 제공합니다. 또한, SX 40은 이미지 및 자동 배경 효과의 자동 통합을 통합하여 쉽게 분석 할 수 있습니다. SX40은 곡물, 침전물, 저대비 세밀한 구성 요소와 같은 미세 구조를 분석하는 데 사용될 수 있습니다. 또한 공백, 격자 결함 및 미세 구조 기능을 감지하는 데 사용할 수 있습니다. ISI SX 40은 세라믹 커패시터, 미세한 분말, 박막과 같은 3 차원 물체를 분석 할 수 있습니다. ISI SX40 은 자동화된 데이터 수집 장비와 사용자 친화적인 일련의 기능 (예: 효율적인 데이터 처리를 위한 자동 포지셔닝 시스템) 을 갖추고 있습니다. 이 장치는 또한 샘플 이미지를 후처리 할 수 있습니다. 또한 SX 40은 실시간 제어기, 사전 설정된 스캐너 기능과 같은 고급 제어 기능을 제공합니다. SX40은 기계적 강도가 높은 샘플부터 연약한 미세 기계 구조 (micromechanical structure) 의 샘플까지 다양한 응용 분야에 적합합니다. 현미경은 분산 모서리 (dispersive edges) 또는 수렴 및 발산 (converging and diverging) 기능과 같은 미세 기계 특징을 관찰 할 수 있습니다. ISI SX 40에는 자동 카메라 진동, 저소음 스냅샷 획득, 정밀도 개선 등 다양한 기능이 있습니다. 또한, 현미경에는 전용 사용자 인터페이스 (user-interface) 가 있어 SEM 의 다양한 기능을 관리하고 제어 할 수 있습니다. ISI SX40은 미세 구조 분석에 이상적인 다재다능한 현미경입니다. 고해상도 및 자동화된 기능을 통해 사용자는 샘플을 쉽고 효율적으로 분석할 수 있습니다. 연구 및 산업 응용에 이상적인 현미경입니다.