판매용 중고 ISI SS40 #114649

ISI SS40 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 다양한 고해상도 이미징 및 원소 분석 응용 프로그램에 사용되는 다재다능한 도구입니다. 가장 주목할만한 기능은 최대 0.5 nm 해상도의 이미지를 제작하여 나노 스케일 (Nanoscale) 이미징 및 분석을위한 최고급 선택입니다. SEM의 핵심에는 전자 소스 (필라멘트 또는 필드 방출 음극) 가 있습니다. 이 "소오스 '는 표본" 챔버' 에 고정 된 표본 에 걸쳐 주사 되는 전자 의 흐름 을 방출 한다. 이들 전자가 샘플과 상호 작용함에 따라 2 차 전자 신호가 SEM의 검출기에 의해 방출되고 검출된다. 이러한 신호는 SEM 모니터에 증폭되어 표시되어 표본을 시각화합니다. 또한 SEM 은 다양한 검출기 (detector) 를 통해 샘플의 특성을 보다 효과적으로 파악할 수 있습니다. 여기에는 2 차 전자 검출기와 에너지 분산 x- 선 분광법 검출기가 포함되며, 둘 다 샘플의 원소 정보를 제공 할 수 있습니다. 또한 ISIS SS40은 표준 열에서 고급 MV (Medium High Voltage) 열까지 전자 광학 열 (전자 광학 열) 을 선택하여 다양한 배율과 향상된 해상도를 제공합니다. 또한 SEM에는 고해상도 이미지, 비디오 및 샘플의 양적 측정을 캡처 할 수있는 ICS (Image Capture Software) 가 장착되어 있습니다. 실시간 이미지 개선 도구 (Imal Image Enhancement Tool) 를 통해 이미지를 쉽게 조작하여 구조의 시각화 (Visualization) 를 수행할 수 있습니다. ISI SS40의 컴팩트하고 인체 공학적 인 디자인은 연구 실험실에서 쉽게 운송 및 설정 할 수 있습니다. 이 기구 는 높이 를 조절 할 수 있는 "스테이지 ', 다양 한 배율 의 설정 및 서로 바꿔 놓을 수 있는" 렌즈' 배열 을 가지고 있어서 여러 가지 형태 의 "샘플 '과 실험 을 하기 에 쉽게 사용자 정의 할 수 있다. 다용도, 신뢰성 및 대형 이미징 기능을 갖춘 하이엔드 SEM을 찾는 사람들에게는 SS40 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 이 이상적인 선택입니다. 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 과 원소 분석 (Elemental Analysis) 기능을 통해 사용자는 자신의 표본을 더 잘 이해할 수 있습니다.