판매용 중고 ISI / AKASHI DS 150F #9119620

ISI / AKASHI DS 150F
ID: 9119620
Scanning electron microscope, (SEM).
ISI/AKASHI DS 150F는 일본 회사 ISI에서 제조 한 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 유형의 현미경은 나노 스케일 (nanoscale) 에서 고해상도 이미지와 3 차원 표면 이미지를 얻는 데 사용됩니다. 이씨 DS 150F (ISI DS 150F) 는 고출력 전자총을 갖추고 있어 샘플에서 전자를 흥분시키고 최대 50nm 해상도의 이미지를 생성 할 필요한 에너지를 생성 할 수있다. 모든 수준의 사용자에게 쉽게 작동 할 수있는 반자동 (semi-automatic) 디자인이 있습니다. AKASHI DS 150F는 다양한 기능을 사용하여 상세한 고품질 이미지를 생성합니다. 자동화된 스테이지 추적 시스템 (stage-tracking system) 이 장착되어 있어 이미징 도중 샘플의 위치를 보다 쉽게 모니터링하고 조정할 수 있습니다. 내장형 디지털 카메라는 라이브 이미징 모니터링 (Live Imaging Monitoring), 이미지 캡처 (Image Capture) 를 통해 더욱 많은 시청 및 분석을 수행할 수 있습니다. 또한, DS 150F는 2 차 전자 이미징, 백스캐터 전자 이미징, 고배율에서의 이미징 등 다양한 이미징 모드를 지원합니다. 추가적인 편의를 위해, 현미경에는 직관적인 제어 소프트웨어 인터페이스도 제공됩니다. ISI/AKASHI DS 150F는 다양한 응용 프로그램에서 고성능 이미징을 제공하도록 설계되었습니다. 다중 이미징 매개변수를 제공하며, 저진공 상태에서 고진공 상태로 작동 할 수 있습니다. 또한, 넓은 온도 범위에서 안정적으로 작동할 수 있도록 특수 냉각 시스템 (specialized cooling system) 을 갖추고 있습니다. 또한, ISI DS 150F는 광각 스테이지 (wide-angle stage) 를 특징으로하며, 별도의 샘플 로테이터가 필요하지 않으며, 정렬이 필요하지 않고도 최대 150mm 너비의 샘플을 이미징 할 수 있습니다. 전체적으로, AKASHI DS 150F는 강력하고 사용자 친화적 인 스캔 전자 현미경으로, 사용자에게 광범위한 이미징 기능을 제공합니다. 최첨단 기능과 사용이 간편한 디자인으로, 이 유형의 현미경은 나노스케일 (Nanoscale) 까지 고해상도 이미징을 필요로 하는 다양한 어플리케이션에 이상적인 솔루션입니다.
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