판매용 중고 ISI / AKASHI DS 150F #9096265

ISI / AKASHI DS 150F
ID: 9096265
Scanning electron microscope (SEM).
ISI/AKASHI DS 150F는 최고의 이미징 선명도를 위해 150kV 가속 전압 기능을 갖춘 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 디지털 이미징 SEM은 기존 및 환경 SEM 이미징 기능을 모두 제공합니다. 고속 스캔 장비가 업그레이드되어 생산성 향상, 해상도 향상 등의 효과를 제공합니다. 최대 이미지 해상도의 경우, ISI DS 150F는 향상된 건 정렬 기술을 사용하여 전자 빔을 광학 및 검출기에 맞춥니다. 이 시스템은 또한 샘플의 손쉬운 표본 적재 및 하역을위한 자동화 된 로봇 암 (robot arm) 과 저압 및 고도의 진공 무결성 (vacuum unit) 을 유지하는 진공 장치 (vacuum unit) 를 갖추고 있습니다. AKASHI DS 150F의 고급 이미징 기능에는 역 분산 전자 이미징, 2 차 전자 이미징 및 분석 기능이 포함됩니다. 뒤 흩어진 전자 검출기는 사방에서 신호를 수집하는 반면, 2 차 전자 검출기는 지형 표면 특징의 시각화를 위해 정전기 이미지 컨투어를 제공합니다. DS 150F 의 분석 머신 (analytical machine) 은 얇고 두꺼운 재료 유형에서 여러 요소를 동시에 측정합니다. ISI/AKASHI DS 150F는 또한 최대 200,000X까지 확대할 수 있는 디지털 카메라 (내장형) 를 포함한 다양한 혁신적인 기능을 제공합니다. 이를 통해 사용자가 정확한 선명도로 이미지를 편리하게 캡처할 수 있습니다. 또한, 자동 초점 추적 기능은 샘플에 중점을 두며, 자동 STEM 스캐닝은 데이터와 샘플 무결성을 모두 보호합니다. 이 최첨단 스캐닝 전자 현미경은 가변 전력 전자 총, 온도 매개 샘플 스테이지, 이온 열 모듈, 현미경 자동 조작을위한 컨트롤러 (Controller) 등 성능을 향상시키는 다양한 액세서리를 제공합니다. 전반적으로, ISI DS 150F는 전례없는 해상도와 선명도를 위해 향상된 이미징 기능을 갖춘, 매우 효율적이고 안정적인 SEM입니다. 강력한, 모듈식 (modular) 구성 및 독점 기능으로 운영자에게 탁월한 성능과 만족도를 제공합니다.
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