판매용 중고 HITACHI WB-3100 #9273090

HITACHI WB-3100
ID: 9273090
Wafer bump inspection system.
HITACHI WB-3100은 고급 분석 기능을 갖춘 고정밀 이미징에 사용되는 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 현미경은 1 nm (1 nm) 의 높은 해상도를 가지고 있으며, 미세 구조를 매우 자세히 이미징 및 검사하는 데 이상적입니다. 큰 액체 질소 냉기 단계를 갖추고 있으며, 온도에서 -196 례까지 및 1 x 10-6 Torr의 진공 조건에서 작동 할 수 있습니다. WB-3100에는 이미징 중 정확한 포지셔닝에 적합한 고정밀 XYZ 단계가 있습니다. 이 단계에는 회절 광학 장치 (diffraction optics) 와 온축 미러 시스템 (On-Axis Mirror System) 이 있으며, 탁월한 안정성을 제공하여 반점 소음이 적은 미세 구조의 고해상도 이미징을 허용합니다. 현미경은 또한 고해상도 디플렉터 렌즈 (deflector lens) 를 가지고 있으며, 이는 더 큰 배율에서 더 높은 해상도의 이미지 캡처가 가능합니다. 이 SEM은 최대 5 nm 두께의 나노 입자 및 필름 (예: 작은 세부 사항) 을 캡처하고 분석 할 수 있습니다. 현미경에는 또한 금속 및 비금속 물질 및 샘플에서 전자를 감지 할 수있는 임피던스 광도계 (impedance photometer) 가 있으며, 정확도가 높습니다. 또한 HITACHI WB-3100 은 자동 스테이지 위치, 자동 스테이지 동작 제어, 현미경 영역 검색, 자동 측정 등 다양한 자동 기능을 갖추고 있습니다. 이 SEM에는 쉽고 효율적인 작동이 가능한 사용자 친화적 이미징 소프트웨어가 있습니다. 또한 외부 컴퓨터에 연결하여 데이터 분석 (data analysis) 및 이미지 저장 (image storage) 을 수행할 수 있습니다. 전반적으로, WB-3100은 최고 수준의 정밀도를 가진 마이크로 및 나노 구조를 이미징 및 분석하는 데 이상적인 선택입니다. 고해상도 (High Resolution) 및 자동 (Automated) 기능은 최적의 이미지 처리 및 분석 환경을 제공합니다.
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