판매용 중고 HITACHI WB-3100 #293643007

HITACHI WB-3100
ID: 293643007
웨이퍼 크기: 8"
빈티지: 2004
Wafer bump inspection system, 8" 2004 vintage.
HITACHI WB-3100은 나노 스케일 구조의 분석을 위해 설계된 고해상도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 온도와 압력 (pressure) 에서 작동 할 수있는 환경실 (environmental chamber) 이 있어 가혹한 조건에서 잘 작동합니다. 고출력 전자는 나노미터 (nanometer) 규모의 해상도와 매우 세밀한 디테일 (details) 을 달성하여 시장에서 최고의 SEM 중 하나입니다. WB-3100 의 올바른 설계로, 작은 설치 공간도 제공하면서 쉽게 액세스할 수 있습니다. 저진동 디자인과 저소음 수준은 모든 설정에 이상적입니다. 배율 범위는 20x-300,000x이며 나노 미터 크기의 기능의 3 차원 이미징을 허용합니다. 이는 생명 공학, 나노 기술, 반도체 등 다양한 산업에 이상적인 선택입니다. HITACHI WB-3100 은 고급 이미지 처리 기능과 직관적인 사용자 친화적 인터페이스를 제공하는 최신 버전의 Nano Scope 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 정밀한 스캐닝 (scanning) 조건을 가능하게 하는 빔 제어 기술이 내장되어 있어 섬세하고 연약한 샘플을 이미징하는 데 적합합니다. 이 SEM에는 자동 및 수동 작업 모드가 모두 제공됩니다. 자동 모드는 빠르고, 정확하며, 반복 가능한 결과를 제공하는 반면, 수동 모드는 더 많은 제어 및 유연성을 제공합니다. 이 시스템은 또한 자동 오명 조정 (stigmation adjustment) 기능을 갖추고 있어 해상도가 높아지고 이미지가 선명해집니다. 또한, WB-3100에는 마이크로 조작기 (micro-manipulator) 및 특별히 설계된 표본 보유자를 포함하여 다양한 유형의 샘플을 수용 할 수있는 다양한 액세서리가 제공됩니다. 또한 SEM 이미지 분석, 요소 매핑 등 다양한 분석 기능이 있습니다. 이것은 광범위한 연구에 이상적인 도구입니다. 전반적으로, HITACHI WB-3100은 최고의 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 연구에 큰 디테일과 정확성을 제공합니다. 그것의 특징과 액세서리의 조합은 다양한 과학적, 산업적, 학문적 응용을위한 완벽한 도구입니다.
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