판매용 중고 HITACHI WA-3300S #293603568

HITACHI WA-3300S
ID: 293603568
Atomic Force Microscope (AFM).
HITACHI WA-3300S (HITACHI WA-3300S) 는 스캐닝 전자 현미경으로, 높은 해상도와 디테일 깊이로 분 샘플의 표면을 관찰 할 수 있습니다. 표본의 상세한 지형을 밝히고 전자 현미경 주사 (Scanning Electron Microscopy) 를 수행하기 위해 나노 미터 척도까지 재료를 감지, 분석, 측정하기위한 다재다능한 도구입니다. 이 기기는 동력 샘플 스테이지와 대형 진공 실로 설계되었습니다. 광역 이미징 (광역 이미징) 과 다수 빔 (beam) 형상으로 고도로 현지화된 스캐닝을 모두 수행할 수 있습니다. 또한 최대 200kX, 최대 68mm 시야, 5nm 해상도의 높은 배율을 제공합니다. WA-3300S에는 EDS (Energy Dispersive X-ray System) 가 있으며, 몇 초 안에 샘플의 에너지 분석을 수행하고 그 구성을 식별 할 수 있습니다. 이를 통해 결정 구조, 화학 성분 (chemical composition) 등과 같은 재료의 특성을 신속하게 평가할 수 있습니다. 또한, HITACHI WA-3300S는 컴퓨터 제어 샘플 로딩 시스템을 통합하여 샘플 스테이지에서 샘플을 쉽게 마운트합니다. 또한 빠른 단계 조작을위한 자동 표본 인식, 기울기 및 초점 메커니즘이 제공됩니다. 이 기능을 사용하면 다른 기울기 각도로 샘플 스캐닝을 수행할 수 있습니다. 즉, 모든 면에서 샘플을 분석하는 데 매우 유용합니다. WA-3300S에는 또한 다양한 크기의 표본에서 화질을 최적화하고 해상도를 높이도록 설계된 외부 데이터 처리 장치 (EPDU) (External Data Processing Unit, EPDU) 가 있습니다. 이 장치는 라이브 SEM 이미지 처리 및 분석을 가능하게 하며, 인스턴트 리콜을 위해 최대 8 개의 이미지를 저장할 수 있습니다. HITACHI WA-3300S (HITACHI WA-3300S) 는 다양한 분석 프로세스를 수행하는 기능과 더불어 높은 확장성과 해상도를 최적으로 결합한 제품입니다. 표면 분석, 재료 연구, 나노 기술 등에 적합한 도구입니다.
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