판매용 중고 HITACHI WA 3300 #9211642

HITACHI WA 3300 (HITACHI WA 3300) 은 다양한 배율에 걸쳐 높은 정밀도의 작은 샘플을 이미징하도록 설계된 고해상도 단색 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 장치에는 고해상도 이미징을 가능하게 하는 대용량 렌즈가 장착되어 있습니다. 4k 2 차 전자 검출기 (SE) 검출기와 탄소 또는 실리콘과 같은 원소의 높은 대비 이미징을위한 BSE (backscattered electron) 검출기가 있습니다. 또한 "셈 '은 가변 압력 장비 를 가지고 있는데, 이것 은 시약 을 추가 할 필요 없이 얇은 표본 을 성공적 으로 촬영 할 수 있게 해 준다. HITACHI WA3300은 50 배에서 10,000 배 사이의 높은 배율로 안정적인 이미징을 가능하게하는 필드 스탑을 갖춘 오일 몰입 된 오브젝티브 렌즈를 갖추고 있습니다. 이 장치는 또한 샘플을 지속적으로 모니터링하고 그에 따라 초점을 조정하는 자동 초점 기능 (autofocus function) 을 제공합니다. 자동 초점은 또한 0.01 nm의 공간 해상도를 가지며, 이는 나노 스케일에서 이미징 샘플에 유익합니다. 또한 SEM은 고급 에너지 분산 X-ray (EDX) 시스템으로 인해 단일 이미지에서 여러 원소 분포를 측정 할 수 있습니다. WA-3300 은 간단한 사용자 인터페이스를 제공하며, 최소한의 교육으로 작동할 수 있습니다. 이 장치에는 또한 자동화된 측정과 이미징을 매우 쉽게 만들 수 있는 여러 가지 유틸리티와 소프트웨어 옵션이 있습니다. 휴대용 (portable) 장치이기도 하며, 모든 유형의 실험실에서 사용할 수 있으며, 여러 위치에서 컴퓨터를 작동시켜야 하는 사용자에게 편리합니다. WA 3300에는 약한 대조적 인 표본의 고해상도 SEM 이미지를 캡처하는 매우 낮은 배경 노이즈 감지기가 있습니다. 전반적으로 HITACHI WA-3300 은 뛰어난 정확도와 뛰어난 화질을 지닌 다양한 소형 샘플을 이미징, 분석할 수 있도록 설계된 강력한 SEM 입니다. EMC 의 강력한 기능과 전문적인 품질 성능으로 모든 전문 실험실에서 사용할 수 있는 최적의 선택입니다 (영문).