판매용 중고 HITACHI WA 3300 #293592768

HITACHI WA 3300
ID: 293592768
웨이퍼 크기: 12"
Atomic Force Microscope (AFM), 12".
HITACHI WA 3300은 HITACHI가 개발 한 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 연구 개발 (Research and Development), 산업 생산 (Industrial Production), 품질 관리 (Quality Control) 분야의 재료 이미징 및 분석에 사용됩니다. HITACHI WA3300 은 최소 0.3 nm 크기의 고해상도 이미징, 광시야각, 넓은 심도, 높은 수준의 이미지 대비를 제공합니다. 또한 WA-3300에는 강력한 고해상도 EverHDS 더블 틸트 (double-tilt) 가능 장치가 장착되어 있어 상단면과 하단면 모두 이미징이 가능합니다. WA 3300은 쉽게 설치하고 작동할 수 있도록 설계되었습니다. 작은 설치 공간이 있으며 작동을 위해 사용자 친화적 인 터치 패널을 사용합니다. 통합 이미징 시스템은 직관적이며, 다양한 이미징 매개변수와 함수 (function) 를 선택할 수 있습니다. HITACHI WA-3300은 진공 샘플 단계, X 선 검출기, EDX 장치, 2 차 전자 검출기 및 이온 빔 검출기와 같은 다양한 액세서리와 옵션을 제공합니다. 이를 통해 사용자는 X- 선 이미징, 전자 회절 등 다양한 분석을 수행 할 수 있습니다. WA3300에는 이미지 처리 시스템이 통합되어 있습니다. 이를 통해 사용자는 이미지를 편집하고 입자 크기, 모양 및 형태 측정, 3D 서피스 특성을 수행 할 수 있습니다. HITACHI WA 3300 은 고급 이미징 소프트웨어를 제공하므로 SEM 이미지의 모양을 최적화하고 관심 기능을 강조할 수 있습니다. HITACHI WA3300은 재료, 화학, 지질학, 환경 과학, 생물학, 비파괴 테스트 및 3D 자재 이미지를 포함하여 다양한 응용 분야에 사용할 수 있습니다. EDX 장치와 함께 사용될 때, WA-3300은 생물학적, 제약 연구, 재료 과학, 환경 모니터링 등 다양한 응용 분야에 대한 요소 분석에 사용될 수 있습니다. WA 3300은 다양한 분야의 과학 연구에 이상적인 도구입니다.
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