판매용 중고 HITACHI WA 1200 #9196442

HITACHI WA 1200 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 고해상도 이미지 및 미세 분석을 생성 할 수있는 고급 분석 기기입니다. 이 기기는 울트라 하이 진공 시스템 (UltraHigh Vacuum system) 과 최첨단 전자 광학 (Electron Optics) 뿐만 아니라 높은 명암과 뛰어난 이미지 깊이를 가능하게하는 열 내 2 차 전자 검출기를 갖추고 있습니다. 이 기기는 가속 전압 (최대 30kV) 으로 작동하며 최대 50 나노 미터의 해상도로 샘플을 이미징 할 수 있습니다. 그것은 다양한 탐지기 범위를 사용하여 샘플에서 유도 할 수있는 정보를 증가시킵니다. 여기에는 in-column Secondary Electron Detector, Backscattered Electron Detector 및 3 차원 Electron Spectrometer가 포함됩니다. HITACHI WA-1200 에는 다양한 사용자 친화적 기능도 포함되어 있습니다. 정밀 샘플 배치가 가능한 완전 자동화 단계 (fully automated stage) 와 빠른 샘플 로딩 및 언로드를 보장하기 위해 2 개의 샘플 홀더가 제공됩니다. 초속 50mm (초속 50mm) 의 고속 이동을 자랑하는 반면, 필름 처리 없이도 디지털 이미지를 얻을 수 있습니다. 이 도구에는 다양한 이미징 (Imaging) 및 분석 (Analysis) 소프트웨어 옵션도 포함되어 있으며, 이 옵션은 생성된 이미지를 조작하고 분석하는 데 사용할 수 있습니다. 이 소프트웨어에는 이미지 대비 조작, 이미지 처리, 드로잉, 측정 기능 등 다양한 기능이 있습니다. 이 소프트웨어는 또한 여러 시야에서 수집한 데이터에서 3D 이미지를 생성할 수 있습니다. 또한 WA 1200은 AFIB (Automated Focused Ion Beam) 또는 VPB (Variable Pressure Beam) 와 같은 다양한 추가 액세서리와 함께 사용할 수 있습니다. 아피비 (AFIB) 는 나노미터 (nanometer) 의 정확도로 매우 작은 기능의 이미징을 허용하는 반면, VPB (VPB) 는 작은 작업 영역을 허용하며 섬세한 샘플을 검사하는 데 사용될 수 있습니다. 전반적으로 WA-1200 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 뛰어난 장비로, 고해상도 이미지를 제작하고 상세한 미세 분석을 완료 할 수 있습니다. 첨단 전자광학, 다양한 사용자 친화적 기능, 정교한 이미지와 분석 (analysis) 을 제공하는 소프트웨어 등을 갖추고 있습니다. 또한 액세서리를 추가하여 추가 기능을 제공 할 수 있습니다.