판매용 중고 HITACHI TM-4000 Plus II #293830806

HITACHI TM-4000 Plus II는 재료 과학, 나노 기술, 생물학 및 기타 과학 분야의 광범위한 응용을위한 고급 이미징 기능을 제공하는 고성능 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 최첨단 도구는 연구원, 과학자, 엔지니어에게 뛰어난 해상도, 배율, 작동 편의성을 통해 나노 (nano) 수준의 세밀하고 정확한 이미지를 얻을 수 있도록 설계되었습니다. TM-4000 Plus II 의 주요 기능 중 하나는 고해상도 이미징 기능으로, 사용자가 뛰어난 선명도와 세부적인 면에서 샘플을 시각화할 수 있습니다. 이 기기는 15kV에서 최대 1.0 나노 미터 (nanometer) 의 해상도로 고품질 이미지를 생산하는 정교한 전자 광학 시스템 (electron optics system) 을 갖추고 있으며, 연구자들은 원자 및 아원자 수준에서 샘플을 조사 할 수 있습니다. 이 해상도 수준은 정밀하고 정확하게 재료의 미세 구조, 형태 및 구성 (composition) 을 연구하는 데 필수적입니다. HITACHI TM-4000 Plus II는 고해상도 이미징 기능 외에도 다양한 어플리케이션의 요구 사항에 맞게 다양한 확대 옵션을 제공합니다 (영문). 이 기기의 확대 범위는 20x ~ 100,000x이며, 연구원은 다양한 스케일과 세부 수준으로 샘플을 관찰 할 수 있습니다. 이러한 배율의 다양성을 통해 사용자는 다양한 표면 피쳐, 텍스처, 구조를 가진 샘플을 포괄적인 방식으로 분석할 수 있습니다. TM-4000 Plus II는 운영 용이성과 사용자 친화적인 인터페이스를 제공하도록 설계되어 초보자 (novice) 사용자와 숙련된 사용자를 모두 액세스할 수 있습니다. 즉, 직관적인 소프트웨어를 통해 사용자가 이미지 매개 변수를 제어하고, 설정을 조정하고, 쉽게 이미지를 얻을 수 있습니다. 또한, 사용자 친화적인 인터페이스를 통해 자동화된 이미지 획득, 이미지 처리 도구, 측정 기능과 같은 고급 (advanced) 기능을 통해 연구원들이 효율적이고 정확하게 샘플을 분석할 수 있습니다. 또한, HITACHI TM-4000 Plus II에는 기기의 이미징 성능을 향상시키는 고급 전자 탐지 시스템이 장착되어 있습니다. 이 기기는 2 차 전자 검출기 (SED) 와 역 산란 전자 검출기 (BSED) 를 특징으로하며, 둘 다 샘플의 표면 특성과 조성에 대한 귀중한 정보를 제공합니다. 이들 탐지기 (detector) 는 보완 이미징 기술을 제공하여 사용자가 샘플 특성에 대한 포괄적인 이해를 얻을 수 있도록 합니다. 또한, TM-4000 Plus II에는 연구원들이 샘플의 원소 분석 및 화학적 특성을 수행 할 수있는 다양한 분석 기능이 있습니다. 이 기기는 원소 매핑 및 구성 분석을 위해 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 을 지원하며, 샘플 내 원소의 화학 조성 및 분포에 대한 귀중한 통찰력을 제공합니다. 이 분석 능력은 재료에 존재하는 요소를 식별하고, 정량화하고, 다양한 과학 분야의 연구 및 개발을 촉진하는 데 필수적입니다. 전반적으로 HITACHI TM-4000 Plus II는 최고의 이미징 성능, 고급 분석 기능 및 사용자 친화적 인 작동을 제공하는 최첨단 스캐닝 전자 현미경입니다. 고해상도 이미징 (high-resolution imaging), 넓은 확대 범위 (wide magnification range) 및 고급 탐지 시스템 (advanced detection system) 을 갖춘 이 도구는 재료 과학, 나노 기술, 생물학 및 기타 과학 분야의 광범위한 응용 분야에 이상적입니다. 연구원과 과학자들은 TM-4000 Plus II에 의존하여 고품질 이미지와 연구 및 분석 요구에 대한 귀중한 통찰력을 제공 할 수 있습니다.