판매용 중고 HITACHI TM-3030 Plus #293748968

HITACHI TM-3030 Plus는 고해상도 이미징을 위해 설계된 정확한 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 2 차 및 백스캐터 전자 이미징, 마이크로 분석, EDS 및 CL 스캔 이미지를 포함한 다양한 작동 모드를 사용합니다. TM-3030 Plus에는 필드 방출 건 (field emission gun) 과 자기 렌즈 (magnetic lens) 가 장착되어 있으며 기존의 SEM보다 거의 10 배 높은 0.4 nm 공간 해상도를 가능하게합니다. 이 놀라운 해상도는 마이크로 일렉트로닉 부품에 대한 초소형 세부 (ultra-fine details) 와 같은 매우 작은 기능을 검사하는 데 이상적입니다. 이 현미경은 또한 다양한 자동 기능 (automated features) 과 액세서리 (accessory) 를 통합하여 작동이 쉽고 효율적입니다. 예를 들어, 장비에는 자동 단계, 초점 위치를 조정하기위한 트리밍 장치, 전자 통과 에너지를 제어하기위한 에너지 여과 장치 (energy-filtration unit) 가 포함됩니다. HITACHI TM-3030 Plus 는 소형 설치 공간과 사용자 친화적인 소프트웨어 인터페이스를 통해 손쉽게 작동할 수 있도록 설계되었습니다. 전자총 은 표적 을 더 잘 보기 위해 기둥 을 위아래 로 이동 시킬 수 있으며, "가스 '는 오염 을 방지 하도록 압력 을 받는다. 또한 현미경에는 폴리머, 금속 및 바이오 샘플을 포함한 다양한 샘플 재료의 빠른 고해상도 이미징을위한 통합 된 "칩 온 팁 (chip-on-tip)" 분석 시스템이 있습니다. 이 기술을 통해 유닛은 상세한 원소 분배를 빠르고 정확하게 제공 할 수 있습니다. 또한 TM-3030 Plus 에는 다양한 고급 이미지 처리 기능이 장착되어 있어 SEM 데이터를 빠르고 쉽게 조작할 수 있습니다 (영문). 이러한 기능에는 Z 스택, 3D 분석, 드리프트 제거 및 실시간 히스토그램이 포함됩니다. HITACHI TM-3030 Plus 는 정교한 SEM 머신으로, 샘플 로딩 시간이 매우 적은 고해상도 결과를 낼 수 있습니다. '자동화된 기능 (automated features)' 과 '액세서리 (accessory)' 는 복잡한 미세 구조를 검사하고 빠르고 정확한 원소 분포를 생성하는 데 이상적인 도구다.