판매용 중고 HITACHI TM-1000 #9409890
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ID: 9409890
빈티지: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM)
Magnification: 20x ~10000x
Accelerating voltage: 15 kV
Observation mode setting: Standard mode / Reduced discharge mode
Sample moving range: X: 15 mm and Y: 18 mm
ZEI Large sample size: 70 mm
ZEI Large sample thickness: 20 mm
Electron gun: Pre-centered filament
Detector: High-sensitivity semiconductor backscattered electron detector
Auto image adjustment function:
Auto start
Auto focus
Auto brightness
Image storage pixels: 640×480, 1280×960 pixels
Image data storage: PC attached hard disk
Exhaust system (Vacuum pump): Turbo molecular pump: 30 L/s
Diaphragm pump: 1 m³/h
Overcurrent protection function
Computer
2006 vintage.
HITACHI TM-1000은 고급 전자 광학, 로드 잠금 샘플 플랫폼 및 사용자 친화적 인 소프트웨어로 유명한 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 다양한 소재와 고감도 원소 분석을 위한 탁월한 이미징 기능을 제공합니다 (영문). 고해상도 역산포 전자 검출기는 대비를 증가시켜 대조 해상도를 높입니다. 이 고급 전자 광학은 고해상도 이미지와 원소 데이터 분석을 제공하여 사용자에게 혜택을 줍니다. 강력한 온보드 일렉트로닉스를 통해 중형/고해상도 SEM 이미지와 원소 데이터를 동시에 수집할 수 있습니다. 디지털 자동화 장비 (Digital Automation Equipment) 와 결합된 이러한 기능을 통해 사용자는 데이터 입수를 사용자 정의하고 프로그래밍할 수 있습니다. 따라서 배치 스캐닝 (batch scanning) 을 설정하고 시간 효율성을 위해 여러 샘플을 신속하게 분석할 수 있습니다. HITACHI TM 1000의 배율은 7배에서 500,000배까지 다양합니다. 저kV 현미경은 유기 및 무기 샘플을 이미징하는 데 이상적이며, 고에너지 해상도 (high-energy resolution) 모드를 통해 금속 및 합금의 이미징을 매우 자세히 구현할 수 있습니다. 또한 직경 8cm (최대 8cm) 의 샘플을 관찰 할 수있는 큰 표본 챔버가 있습니다. 이미지 처리 기능 외에도 TM-1000에는 요소 분석을위한 에너지 분산 분광법 (EDS) 데이터를 생성 할 수있는 U 자형 분광계가 있습니다. 이 EDS 피쳐는 샘플의 원소 구성을 결정하는 데 도움이 되며 재료 구조 (material structure) 에 대한 정보를 제공할 수 있습니다. 분광기로 생성 된 데이터를 사용하여 재료 식별 (material identification) 을 돕기 위해 원소 맵 (elemental map) 을 만들 수도 있습니다. TM 1000은 신뢰성이 높으며 다양한 홀더, 스테이지 삽입, 자동 정렬 시스템을 수용할 수 있습니다. 사용자 친화적인 작업 인터페이스를 통해 주변 장치 설정 (peripheral setup) 을 더욱 단순화하여, 사용자가 샘플을 로드하자마자 작업을 쉽게 시작할 수 있습니다. 또한, 환경 제어 시스템 (옵션) 을 사용하면 프로세스가 제어되는 동안 챔버 내부의 온도와 습도를 조정할 수 있습니다. HITACHI TM-1000 (HITACHI TM-1000) 은 우수한 전자 현미경 어셈블리 유닛으로, 성능과 사용자 친화적 설계를 통해 연구와 업계에서 모두 사용할 수 있습니다. 고급 탐지 기능과 대형 표본 챔버 (simimen chamber) 를 통해 샘플의 향상된 이미징 및 요소 분석을 달성 할 수 있습니다. 환경 제어 기계 (옵션) 도 정확한 샘플 분석을 위한 이상적인 기능입니다.
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