판매용 중고 HITACHI TM-1000 #293778230
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ID: 293778230
Scanning Electron Microscope (SEM)
Electron gun: Pre-centered cartridge filament
Magnification range: 20x to 10000x
Acceleration voltage: 15 kV
Specimen traverse with X-Y Axis: 15 mm
Detection system: BSE Detector.
HITACHI TM-1000 스캔 전자 현미경 (SEM) 은 사용자에게 최고의 해상도 이미징을 제공하도록 설계되었습니다. 최대 1 나노 미터까지 해상도를 달성 할 수 있으므로 고정밀 이미징에 이상적입니다. 이 장비는 다양한 샘플 (sample) 크기를 수용할 수 있으며, 고속 스캔 속도 (scan rate) 와 대용량 현장 심도 (depth of field) 기능을 통해 복잡한 이미징 작업에 적합합니다. 이 "시스템 '은 전자원 을 이용 하여 1 차 전자 광선 을 형성 한 다음, 표면 에 초점 을 맞춘다. 2 차 전자, 백 흩어진 전자, X- 선 및 2 차 이온은 표면의 샘플 물질과 1 차 전자 빔의 상호 작용으로부터 생성된다. 그런 다음 이러한 신호를 수집, 처리하여 사용자가 이미지를 만들 수 있습니다. 현미경에는 연약하거나 전도성이 없는 표본에 적합한 비 접촉 샘플 단계 (non-contact sample stage) 가 장착되어 있습니다. 또한 흥분 매개 변수를 쉽게 제어할 수 있도록 디지털 인터페이스를 제공합니다. 예제 환경은 단단히 제어되며, 해상도가 2970 x 2240 픽셀인 디지털 이미징 장치를 포함합니다. 이 기계에는 전자 이미징, 미세 튜닝, 표면 분석과 같은 고급 소프트웨어 패키지도 포함되어 있습니다. 이 소프트웨어를 사용하면 표본 서피스와 벌크 컴포지션을 분석하고, 컴포지션 맵을 생성하며, 샘플 두께를 측정할 수 있습니다. 현미경은 기술에 대한 큰 투자를 나타내지만, 나노미터 (nanometer) 수준의 구조물을 이미지화해야 하는 모든 연구소에 귀중한 자산입니다. 고해상도 이미징 기능, 비접촉 스테이지, 디지털 이미징 도구, 고급 소프트웨어 패키지는 섬세한 표본, 고해상도 이미징, 상세한 미세 분석 등에 적합합니다.
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