판매용 중고 HITACHI TM-1000 #293597446

HITACHI TM-1000은 업계 최고의 스캐닝 전자 현미경으로 탁월한 이미지 선명도와 해상도를 제공합니다. HITACHI TM 1000은 고급 전자원 (electron source), 고급 신호 증폭기 (signal amplifier) 및 검출기 (detector), 정교한 소프트웨어를 사용하여 사용 가능한 최고 해상도의 사진을 제작합니다. 최대 8nm 해상도의 지원으로 반도체 (semiconductor) 및 관련 현미경 (microscopic) 샘플의 미세 구조, 재료 및 결함 분석을 다음 수준으로 높입니다. TM-1000 시스템은 최고의 정확도 및 안전 표준을 충족하도록 설계되었습니다. 첨단 올인원 (All-in-one) 분석 플랫폼, 초고성능, 사용자 친화적 운영 등 폭넓은 기능으로, 시장에서 가장 많이 찾는 전자 현미경 중 하나임을 의미합니다. TM 1000은 냉장 방출 총 (FEG) 과 개선 된 전자 광학을 포함하는 최첨단 전자 소스를 자랑합니다. 페그 (FEG) 는 다른 SEM보다 높은 감도를 허용하여 재료를 분석 할 때 뛰어난 이미징 및 원소 구성 분석을 제공합니다. 첨단 전자 광학은 정확도를 높일 수 있도록 특별히 설계되었으며, 이미지 조회 확대 범위 (최대 500,000 배) 도 가능합니다. HITACHI TM-1000은 또한 SE 검출기로 알려진 고급 2 차 전자 (SE) 검출기를 자랑합니다. 이 기능은 SE 효율을 극대화하여 대비 이미지를 높일 수 있도록 설계되었습니다. SE 검출기는 또한 SE-Mapping 및 SE-Diffraction 분석을 수행 할 수 있으며, 이를 통해 미세 구조 및 미세 조성을 분석 할 수 있습니다. HITACHI TM 1000 은 고급 소프트웨어를 장착하여 포괄적이고 다양한 데이터 관리 및 이미지 분석 기능을 제공합니다. EYE 소프트웨어 (EYE software) 와 같은 고급 데이터 처리 도구를 사용하면 강력한 3D 이미지 처리가 가능하며, 연구원들이 높은 확대율로 관심 영역을 '확대' 할 수 있습니다. 또한 HITACHI 종합 데이터 분석 소프트웨어 (Comprehensive Data Analysis Software) 및 SE-Mapping 소프트웨어 등 다양한 소프트웨어 툴을 통해 표면 분석 및 구성이 가능합니다. 전반적으로, TM-1000은 고급 주사 전자 현미경으로, 정확한 재료 분석 및 결함 측정에 적합합니다. FEG (Feg Electron Source), SE 검출기 (SE Detector), 강력한 소프트웨어 등 다양한 업계 최고의 기능을 통해 반도체 분석 및 연구를위한 최첨단 툴입니다.