판매용 중고 HITACHI SU-8010 #9274101

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ID: 9274101
빈티지: 2014
Scanning Electron Microscope (SEM) Ultra-high resolution Energy Dispersive Spectrometer (EDS): Be4 ~ U92 SE-Decision: 1.0 nm Vacuum: 15 kV WD: 4 mm 1.3 nm Landing voltage: 1kV WD: 1.5 mm Detectors: Top, upper and lower Step control: 3-Axis motor drive step 5-Axis motor drive step option Travel range of step: X: 0 ~ 50 mm Y: 0 ~ 50 mm R: 360° T: -5 ~ 70° Z: 1.5 ~ 30 mm Maximum sample size: 100 mm Electron source: Cathode electronic gun Resolution: 10 A° at 15 kV / 13 A° at 1 kV Magnification: 800.000 Fold Power supply: 0.1 kV ~ 30 kV 2014 vintage.
HITACHI SU-8010은 고급 이미징 기능으로 유명한 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 향상된 해상도, 뛰어난 고속 스캔, 정확한 분석 기능 등 최첨단 기능을 제공합니다. HITACHI SU8010은 높은 진공실을 통해 기본 실패 분석 (basic failure analysis) 에서 고급 연구 (advanced research) 에 이르기까지 다양한 이미징 응용 프로그램을 이용할 수 있습니다. SU 8010은 최대 스캔 속도가 1.0 초/라인 (라인 피치가 1.0 µm) 인 멀티 축 스캔 시스템을 포함합니다. 이렇게 하면 시간 지연을 최소화하면서 신속하고 반응성 있는 이미징이 가능합니다. 4000 x 3000 픽셀 CCD 카메라는 2-3nm의 매우 높은 이미지 해상도를 제공합니다. 이것 을 통하여 현미경 은 훌륭 한 대조 를 유지 하면서, "샘플 '의 가장 훌륭 한 세부점 을 포착 할 수 있다. 또한, 카메라의 동시 아날로그-디지털 (analog-digital) 인수는 낮은 소음 수준을 제공하여 탁월한 선명도와 디테일의 이미지를 제공합니다. SU-8010은 다양한 분석 기능도 제공합니다. 옥스포드 EDS (Oxford EDS) 시스템이 장착되어 다양한 모드에서 샘플을 원소 매핑할 수 있습니다. 현미경은 또한 샘플 준비를 위해 조정 가능한 자동 초점 센서로 구성됩니다. 따라서 최적의 이미징을 위해 샘플 높이를 쉽게 조정할 수 있습니다. 마지막으로 SU8010은 뛰어난 사용자 친화력을 제공합니다. 운영 단순화를 위한 제어판 (Control Panel) 과 향상된 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 통해 최소한의 노력으로 설정을 구성할 수 있습니다. 현미경은 또한 다양한 샘플 홀더 (sample holder) 와 호환되므로 다양한 유형의 연구에 적합합니다. 전반적으로 HITACHI SU 8010은 뛰어난 스캐닝 전자 현미경으로, 최고 수준의 기능과 뛰어난 이미징 기능을 제공합니다. 기본 장애 분석 (Failure Analysis) 에서 고급 연구 (Advanced Research) 에 이르기까지 다양한 애플리케이션에 이상적입니다. 최첨단 디자인과 첨단 분석 기능을 갖춘 HITACHI SU-8010 (HITACHI SU-8010) 은 예제의 복잡한 세부 사항을 상세히 살펴볼 수 있는 완벽한 툴입니다.
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