판매용 중고 HITACHI SU-8010 #9268652

HITACHI SU-8010 스캔 전자 현미경 (SEM) 은 고성능 4 총 가변 압력 장 방출 SEM 장비입니다. 첨단 방출 소스 기술 (Field Emission Source Technology) 과 전자 광학 (Electron Optics) 의 최신 발전을 결합하여 광범위한 재료에 대한 고해상도 및 고품질 이미지를 생성합니다. HITACHI SU8010 (HITACHI SU8010) 은 기존의 3 개 건 설정으로 구성된 특수 설계 된 4 건 필드 방출 소스와 높은 전류 및 최대 가속 전압을 제공하는 특별한 4 차 총 설계를 갖추고 있으며, 안정적인 필드 방출 전류 및 긴 작업 수명을 유지합니다. 4 총 전계 방출 원은 1 차 방향 전자 광학 시스템을 사용하여 구형 수차를 줄여 고해상도 이미지를 생성합니다. SEM 은 최대 6,000 배의 광범위한 배율을 제공하며, 동시에 최대 4 개의 샘플을 수용할 수 있으며, 여러 재료를 동시에 비교하고 고품질 이미징을 제공합니다. 총 샘플 챔버 압력은 0.5 ~ 60 Pa 사이에서 조정 될 수 있으며, 다른 가스에서 다른 샘플의 고해상도 이미징을위한 플러그인 가스 혼합 장치 (plug-in gas mixing unit) 를 특징으로합니다. SU 8010 은 고속 스캐닝 머신 (Scanning Machine) 을 장착하여 크고 넓은 스캔 크기를 보장하며, 넓은 지역에 대한 스캐닝 범위를 제공합니다. 또한 얇거나 투명한 레이어가있는 샘플에 명확한 이미지를 제공하는 표준 내장 2 차 2 차 전자 검출기가 포함되어 있습니다. SEM 내부의 독자적인 냉각 툴은 가시 소음을 줄이고, 안정성과 균일성을 높이고, 스캐닝을 매우 빠르고, 선명하고, 정확한 이미지를 만들어냅니다. 고해상도 TEM/STEM (Transmission Electron Microscope/Scanning Transmission Electron Microscope) 호환 총 필라멘트 열 하중 작동도 가능합니다. 이미징 소프트웨어 패키지는 자동 이미지 최적화 도구 (Automatic Image Optimization Tools) 를 제공하여 이미지 분석을 더욱 완화하고 의미 있는 결과를 신속하게 캡처할 수 있도록 지원합니다. 또한, 3D 이미징 및 분석 기능을 포함한 효율적인 이미징 조작 패키지를 제공합니다. SU8010의 가변 압력 장 방출 SEM (Variable Pressure Field Emission SEM) 자산은 다재다능하여 광범위한 실험 조건에서 뛰어난 이미징을 제공합니다. 다른 재료의 고해상도 이미징 및 형태 학적 분석을위한 이상적인 도구입니다.