판매용 중고 HITACHI SU-8010 #9208800

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ID: 9208800
FE Scanning electron microscope Transformer: 5 kVA Compressor Dry scroll pump BRUKER EDX Detector EDX XFLASH Detector: 6/60, 60sq, 129eV, Slew PCI OEM: Lab and Office FESEM.
HITACHI SU-8010은 뛰어난 기술 기능과 다양한 기능을 제공하는 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 장비에는 최첨단 스캐닝 전자 광학 장치 (Scanning Electron Optics) 가 장착되어 있으므로 0.5nm 크기까지 물체의 매우 상세한 이미지를 만들 수 있습니다. 또한, 긴 서비스 수명으로 cryo field 방출 전자 소스 (cryo field emission electron source) 를 사용하여 비 전도성 샘플에서 분석적으로 관련 이미지를 찍을 수 있습니다. 이 제품은 강력한 디지털 컨트롤러에 의해 편리하게 작동되며, 자동 스캐닝과 초대형 이미징 키트, 전용 환경 SEM 챔버 (SEM Chamber) 등 다양한 추가 기능을 지원합니다. 이 시스템은 다양한 장비와 기능 덕분에 루틴 (Routine) 및 고급 (Advanced) 어플리케이션에 모두 적합합니다. EDS (Integrated Energy Dispersive X-ray Detector) 를 사용하면 샘플 구성을 쉽게 식별하고 분석 할 수 있습니다. 또한, HITACHI 진공 장치는 원소 이미징을위한 초고 진공 (UHV) 과 연구 연구를 지원하는 다양한 가스를 용이하게합니다. HITACHI SU8010에는 HTEM (High Transmission Electron Imaging) 모드가 포함되어 있어 동적 현상의 실시간 현장 이미지를 관찰 할 수 있습니다. 또한, 기계는 5 축 마이크로/나노 프로브 스테이지, 대형 샘플 챔버, 저온 조건이 필요한 샘플을위한 특수 크라이 스테이지 (cryo stage) 로 구성된 고급 샘플 스테이지가 있습니다. 이 도구는 또한 샘플 난방 에셋 (sample heating asset), 저진공 전송 모델 (low vacuum transfer model), 고급 가속 및 감속 기술 (advanced acceleration technology), 어려운 샘플의 이미징에 유용한 새로운 자동 정렬 장비와 같은 다양한 액세서리를 장착 할 수 있습니다. 마지막으로, 시스템에는 AES 검출기가 장착되어 있으며, 액체 또는 파우더 샘플을 포함한 자기/비 자기 물질의 고대비 원소 이미징을 제공 할 수 있습니다. 이 기능으로, 연구자들은 전용 샘플 준비 없이도 개별 원자 구조에 대한 통찰력을 얻을 수 있습니다. 이 모든 특징은 SU 8010을 정확한 영상 및 원소 식별을위한 훌륭한 주사 전자 현미경으로 만듭니다.
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