판매용 중고 HITACHI SU-8010 #293824832

HITACHI SU-8010
ID: 293824832
빈티지: 2017
Scanning Electron Microscope (SEM) 2017 vintage.
HITACHI SU-8010은 표면 관찰 및 재료 구조를 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 에너지 분산 분광기 (EDS) 와 고압 공기 잠금이있는 대형 작업실이 특징입니다. SEM은 전자 빔 (electron beam) 을 사용하여 해상도가 0.5 nm 아래로 이미지를 생성하여 표면 특징 및 미세 구조에 대한 자세한 조사 및 분석을 허용합니다. HITACHI SU8010은 진동 억제 메커니즘과 강력한 고압 공기 잠금 장치 (air-lock) 가있는 직경 21cm의 대형 작업 챔버를 갖추고 있습니다. 공기 잠금 장치 (air-lock) 는 오염없이 샘플 전송을 허용하며, 진공 연결 (vacuum connection) 을 분리하여 진공 시스템에서 작업 실을 분리 할 수 있습니다. SEM에는 다양한 샘플 크기와 모양을 수용 할 수있는 샘플 스테이지 (Sample stage) 가 있습니다. SEM에는 FEG (Field Emission Gun) 전자원과 2 차 전자용 열전자 검출기가 장착되어 있습니다. 전자 전류는 1 PA ~ 10 nA로 조정 될 수 있으며, 광범위한 샘플과 조건을 허용합니다. 광역 관측과 스팟 크기 감소를 위해 전자 빔을 편향 할 수 있습니다. SU 8010에는 표면의 화학 분석을위한 에너지 분산 분광계 (EDS) 도 있습니다. EDS에는 큰 고체 각도를 가진 실리콘 표면 배리어 검출기 (SSD) 가 있으므로 빠르고 정확한 원소 분석이 가능합니다. 이 시스템에는 자동 이득 제어 (automatic gain control), 다중 채널 X- 선 창 및 펄스 필업 거부 (pulse pilup rejection) 와 같은 추가 기능이 있으며 다양한 실험 요구에 대한 유연성이 풍부합니다. SEM에는 현미경 이미지를 실시간으로 처리할 수 있는 이미지 프로세서가 장착되어 있습니다. 프로세서는 이미지를 결합하고 형태 학적 분석을 수행하여 정확한 결론과 상세한 재구성을 이끌어 낼 수 있습니다. 이 시스템에는 병렬 포트, RS-232 및 IEEE1394 등 다양한 인터페이스가 있어 다양한 컴퓨터 시스템에 쉽게 연결할 수 있습니다. SU8010 은 다재다능하고 강력한 스캐닝 (scanning) 전자 현미경으로, 다양한 애플리케이션 요구를 충족하도록 설계되었습니다. 견고한 디자인과 시공이 특징이며, 고체 표면의 고해상도 관측에 적합한 뛰어난 이미징 (imaging) 및 분석 (analysis) 기능을 제공합니다.
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