판매용 중고 HITACHI SU-5000 #293670168
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ID: 293670168
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Schottky gun
Exchange chamber
Delmic Cathode Luminescence (CL) measurement addition
Integrated CL function included.
HITACHI SU-5000은 고해상도 이미지와 샘플의 세부 분석을 생성하도록 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 고급 (High Level) 기능을 통해 사용자는 다양한 샘플 검사를 수행할 수 있습니다. HITACHI SU5000에는 샘플 표면에 명확한 해상도를 제공하는 고성능 2 차 전자 검출기가 장착되어 있습니다. 또한 역산포 전자를 수집하여 신호 대 잡음비를 증가시키는 선택적 인 인 렌즈 (in-lens) 검출기가 있습니다. 또한 SU-5000 은 Automated Point Scan 및 Area Scan 기능과 같은 다양한 자동 이미지 캡처 옵션을 제공합니다. SU5000은 진공 상태에서 작동하며, 최대 1,000,000 배율의 샘플에서 10nm 정도의 작은 입자를 감지 할 수 있습니다. 또한 5nm 해상도로 6 미크론까지 작은 개체를 측정 할 수 있습니다. 또한, 현미경은 고급 전동 샘플 스테이지와 통합되어 이미징 및 분석을위한 부드럽고 정확한 샘플 이동을 가능하게합니다. HITACHI SU-5000은 금속, 플라스틱, 제약 및 생물학적 샘플을 포함한 다양한 물질에 최적화되었습니다. 또한 신호의 소음을 줄이기 위해 자동 백그라운드 (background) 빼기 시스템이 내장되어 있습니다. 또한, 고급 전자 제품 및 소프트웨어는 이미지 획득을 정확하게 제어합니다. 또한 HITACHI SU5000은 3D 재구성, 입자 분석, 매핑 등 다양한 소프트웨어 분석 툴을 제공합니다. 이를 통해 보다 정확하고 정확한 샘플 특성화가 가능합니다. 또한 conoscopic, topographic 및 scanning 확산 이미징과 같은 여러 이미징 기술을 적용할 수 있습니다. SU-5000은 산업, 제조 및 과학 실험실 연구를위한 귀중한 도구입니다. 고해상도 이미징 기능, 다양한 자동 기능, 고급 소프트웨어 분석 도구 (Advanced Software Analysis Tools) 를 통해 소재를 분석하고 미세한 입자를 감지할 수 있는 강력한 도구입니다.
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