판매용 중고 HITACHI SU-1510 #9276230

HITACHI SU-1510 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 강력한 이미징 툴로, 높은 수준의 세부 사항으로 샘플의 미세 구조를 검사하는 데 사용할 수 있습니다. 이 장비는 크기가 10 nm ~ 1000 nm 인 샘플의 고해상도 이미지를 제공하도록 설계되었습니다. 현미경은 30mA의 전류로 최대 300kV에 도달 할 수있는 쇼트 키 (Schottky) 이미터를 갖춘 전자 빔 (electron beam) 을위한 전계 방출 총 소스를 특징으로합니다. 가속 전압 (15kV) 만으로, 시스템은 샘플에 대한 빔 손상을 줄이고 해상도를 증가시키는 매우 낮은 에너지 전자 빔을 생성합니다. 현미경은 또한 전자 콘덴서 렌즈, 전자 목적 렌즈, 스캐닝 디플렉터 (스캐닝 디플렉터) 를 포함한 최첨단 전자 광학을 사용하여 효율적인 빔 스캐닝 및 디지털 영상을 제공합니다. HITACHI SU1510 은 다양한 검출기 (detector) 와 카메라를 장착하여 뛰어난 명암과 해상도의 이미지를 캡처합니다. 예로는 2 차 전자 검출기, 역 산란 전자 검출기 및 결합 된 STEM 검출기가 있습니다. 또한, 광학 장치에는 2 차 전자 명암, 역 산란 전자 명암, 가변 빔 명암, 회절 전자 명암과 같은 다양한 고감도 디스플레이 모드가 포함됩니다. 이 현미경 에는 자동화 된 "샘플 '발전기 가 장착 되어 있어서 쉽고 정확 한" 샘플' 을 준비 할 수 있다. 자동 샘플 처리 머신과 5cm ~ 25cm 크기의 샘플을 수용 할 수있는 멀티 스테이지 샘플 홀더 (multi-stage sample holder) 가 특징입니다. 자동 샘플 처리기는 자동 초점 및 샘플 정렬도 제공합니다. 또한, 현미경에는 강력한 이미지 처리 및 분석 제품군이 있어, 사용자가 이미지를 빠르고 정확하게 분석할 수 있습니다. SU 1510 Scanning Electron Microscope는 생물학, 재료 과학, 나노 기술 등의 연구원을위한 이상적인 이미징 도구입니다. 첨단 전자 광학 장치, 저에너지 전자 빔 (low energy electron beam), 자동 샘플 처리 기능을 갖춘 이 툴은 연구원들에게 그들의 샘플에서 전례없는 데이터를 제공 할 수 있습니다.