판매용 중고 HITACHI SPC-100B #293629416

HITACHI SPC-100B는 표면 분석, 물질 특성화, 입자 연구 등 다양한 기능을 제공하는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 현미경은 고급 이미징 기능 (advanced imaging capability) 으로 설계되었으며, 샘플 이동을 제어하는 데 도움이 되는 정밀 단계 제어 (precision stage control) 및 전동식/수동 기능이 장착되어 있습니다. HITACHI SPC-100 B에는 높은 품질의 전자 빔 방출을 보장하기 위해 텅스텐 필라멘트 (tungsten filament) 로 구성된 열전자원이 있습니다. 소스의 디자인은 또한 밝기 (brightness) 와 빔 전압 (beam voltage) 으로 인한 방사선의 영향을 최소화합니다. STEM 소스는 빔 발산 (beam divergence) 이 낮아 입자가 높은 정밀도로 감지 및 분석 될 수 있습니다. 현미경은 전자 에너지 분광학, 전자 회절, 에너지 분산 X- 선 분석과 같은 광범위한 분석 기능을 가지고 있습니다. 또한 스테이지 컨트롤 시스템 (Stage Control System) 을 사용하여 샘플을 높은 수준의 컨트롤로 검사 할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 단일 축, 이중 축 및 3 축 단계를 포함한 다양한 단계를 제공합니다. 이 현미경에는 분석 소프트웨어 인 TEM/STEM 분석기 (TEM/STEM Analyzer) 가 있으며, 이를 통해 사용자는 강력한 데이터 분석 도구에 액세스 할 수 있습니다. 고해상도 이미징, 2 차원 및 3 차원 이미지 재구성, 요소 분리, 3D 이미지 분석 및 방향 매핑과 같은 실험을 지원하기 위해 데이터를 분석하는 데 사용할 수 있습니다. 또한 SPC-100/B 는 다양한 실험 설정에 사용할 수 있도록 다양한 액세서리를 제공합니다. 이러한 액세서리에는 전자 분광법 및 주사 전송 전자 현미경 (STEM) 의 단계와 주사 전자 현미경 (SEM) 의 샘플 홀더가 포함됩니다. 안전성 측면에서 HITACHI SPC-100/B는 쉽게 청소하고, 정적 (anti-static) 카운터 배플을 장착하여 사용자가 방사선에 노출되는 것을 최소화할 수 있습니다. 또한 전자 분광법 (Electron Spectroscopy Window) 이 장착되어 있어 감전 및 기타 위험 요소를 줄일 수 있습니다. SPC-100B는 다양한 고급 이미징 및 분석 응용 프로그램을위한 이상적인 도구입니다. 심층 연구를 위한 신뢰성 있고 비용 효율적인 선택인 '자료 (material)' 와 샘플링 (sample) 구성의 범위를 확장하는 데 도움이 됩니다.