판매용 중고 HITACHI S-9380 II #9273525

HITACHI S-9380 II는 초점 전자 빔으로 표면을 스캔하여 표면의 근접 이미지를 찍도록 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 최대 30kV의 가속 전압과 0.9nm @ 15kV의 해상도를 갖습니다. 유연한 E-Beam Power Control을 통해 현미경은 분석 전자 단층 촬영 (analytical electron tomography) 을 포함한 다양한 응용 분야에 사용될 수 있습니다. 현미경에는 정확한 표면 영상을 위해 높은 전류 밀도를 가진 전자 빔을 방출하는 LaB6 (Lanthanum Hexaboride) 전자 총이 장착되어 있습니다. 이 향상된 성능은 표면 이미징에서 나노 스케일 (nano-scale) 구조 분석에 이르기까지 다양한 응용 프로그램에 적합합니다. HITACHI S9380 II에는 샘플 전송 시스템, 샘플 회전 단계, 예제 가열 단계 등 다양한 샘플 처리 도구도 있습니다. 고급 분석 이미징 및 연구 애플리케이션에 이상적인 다양한 고해상도 SEM 입니다. 현미경은 이미지를 캡처할 수 있는 다양한 탐지기 (detector) 를 제공하며, 이 탐지기 (detector) 는 사용자의 요구 사항에 따라 선택할 수 있습니다. 여기에는 상냉식 2 차 전자 검출기 (SED), 상냉식 백스캐터 전자 검출기 (BES) 및 상하 차동 차동 펄스 전하 검출기 (DCPD) 가 포함됩니다. 또한 새로운 AFSA (Auto Focus and Sample Alignment) 시스템, 자동 빔 중심 및 이미지 스티칭을 포함하여 작업을 용이하게하는 자동 기능을 제공합니다. 이 시스템을 사용하면 샘플에서 샘플까지 반복 가능한 스캔을 쉽게 수행할 수 있습니다. 고해상도, 고해상도, 다용도 샘플 조작 도구의 조합으로, S-9380-II는 나노미터 스케일 이미징 및 고급 분석 단층 촬영에 사용할 수 있습니다. 우수한 성능과 다양한 기능을 통해 다양한 연구 응용프로그램에 적합합니다.