판매용 중고 HITACHI S-9380 II #9251638

HITACHI S-9380 II는 샘플 원자의 표면을 원자로 분석하는 데 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 일반적으로 사용되는 SEM 의 고급 전자 현미경 (Advanced Electronic Microscopy Version) 으로, 이미지 품질 및 분석 기능을 향상시키기 위해 설계된 다양한 기능을 제공합니다. 형태 조사, 다공성 (porosity), 원소 구성, 화학 표면 수정 등 다양한 표면 분석 작업에 적합한 선택입니다. 이 고급 버전의 SEM은 높은 배율 (최대 400,000 ×) 에서 고품질 샘플 이미지를 얻을 수 있습니다. 이것은 2 차 전자 영상, 역 산란 전자의 영상, 다양한 에너지 분산 X- 선 검출기를 사용한 SEM 영상을 포함한 다양한 방법을 통해 달성 될 수 있습니다. 이 단위의 다용도 이미징 기능은 엔지니어링, 생물학, 재료 과학 응용 분야에 매우 유용합니다. 이미지 해상도 측면에서 HITACHI S9380 II는 탁월한 성능 (최대 0.5nm의 이미지 해상도를 달성 가능) 을 제공합니다. 이것은 SEM의 전자 광학의 상당한 업그레이드를 통해 가능합니다. 더 큰 필드 렌즈, 밝기가 향상된 전자 건, 새로 설계된 오브젝티브 렌즈 등 말이죠. 또한, 듀얼 컬러 건 (dual color gun) 을 사용하면 단일 컬러 건에 비해 더 높은 명암과 해상도의 샘플을 관찰 할 수 있습니다. 또한, S-9380-II 챔버는 조사 중인 샘플의 전자 빔 오염을 최소화하도록 설계되었습니다. 자동 챔버 클리닝 (automated chamber cleaning) 기능을 사용하면 분석 전에 챔버에서 외국 입자를 효율적으로 제거 할 수 있습니다. 따라서 이미지 정확도가 향상되고 가동 중지 시간이 줄어듭니다. S-9380 II 에는 샘플 준비 및 이미지 조작을위한 고급 소프트웨어 패키지 (Advanced Software Package) 도 포함되어 있으므로 연구 및 산업 응용에 이상적인 선택입니다. 라이브 이미지 관리 도구인 Particulate Analyzer (Particulate Analyzer) 는 대규모 데이터 및 이미지 세트를 분석하고 조작하는 데 필요한 시간을 줄입니다. TEM-SEM 공동 로컬라이제이션 (TEM-SEM co-localization) 기능을 통해 사용자는 단일 분석에 대해 두 가지 미세한 기술을 활용할 수 있으며, 3 차원과 전체 색상 스펙트럼에서 샘플의 구조를 조사 할 수 있습니다. 전반적으로, HITACHI S 9380 II는 향상된 이미지 품질 및 분석을 촉진하기 위해 설계된 다양한 기능을 갖춘 SEM의 고급 버전입니다. 다용도 이미징 기능, 뛰어난 이미지 해상도, 자동 챔버 클리닝 기능, 고급 소프트웨어 패키지 (advanced software package) 등 다양한 분야에서 다양한 애플리케이션에 적합합니다.