판매용 중고 HITACHI S-9380 II #9245588

HITACHI S-9380 II는 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 으로, 우수한 품질의 SEM 이미지와 종합적인 데이터 분석을 생성하는 고급 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 이 장치는 HITACHI 전자 현미경 제품군의 최신 모델이며 나노 스케일 (Nanoscale) 에서 유기 및 무기 물질 관찰을위한 전문 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 고감도 에너지 분산 X- 선 검출기와 고급 X- 선 미세 분석 장치 (Advanced X-ray microanalysis unit) 를 사용하여 원자 수준에서 샘플의 원소 조성을 측정 할 수 있습니다. 또한 높은 수준의 저전압 SEM 시스템 (Low Voltage SEM System) 을 통해 낮은 확대율로 넓은 시야각 이미지를 얻을 수 있습니다. HITACHI S9380 II는 안정적이고 낮은 축 에너지 스프레드 계수를 생성하도록 설계된 열성 텅스텐 (W) 필라멘트 전자원을 사용합니다. 이를 통해 최대 빔 전류 (beam current) 출력과 향상된 이미지 해상도를 보장하여 향상된 성능과 고해상도 이미지를 얻을 수 있습니다. 또한, 이 도구에는 향상된 관찰 기능을 위해 독특한 3D 기능 분석이 포함되어 있습니다. 이 기능을 사용하면 샘플의 여러 각도 SEM 이미지를 정렬하여 이미지의 세부 3 차원 재구성을 수행할 수 있습니다. 초저진공 (ultra-low vacuum) 모드에서도 사용할 수 있으므로 자연에 가까운 환경에서 재료를 관찰 할 수 있습니다. S-9380-II (S-9380-II) 는 샘플 및 가스 샘플을위한 가스 주입 보유자를 쉽게 정렬 할 수있는 동력 보유자를 포함하여 다양한 표본 보유자와 호환됩니다. 또한 신호 대 잡음비 개선을위한 백스캐터 전자 검출기 (backscatter electron detector) 와 원소 및 위상 매핑을위한 에너지 분산 X- 선 검출기 (energy dispersive X-ray detector) 를 포함하여 여러 가지 고급 검출기가 있습니다. 결론적으로, HITACHI S-9380-II는 광범위한 응용을 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 강력한 이미징, 분석 기능, 향상된 관찰 및 분석 기능을 갖추고 있습니다. 나노 스케일 (nanoscale) 에서 샘플의 고해상도 이미지 (high-resolution image) 와 종합적인 데이터 분석 (data analysis) 을 제작할 수 있으며 생물학, 물리학 또는 재료 과학과 같은 분야의 연구자들에게 귀중한 도구입니다.