판매용 중고 HITACHI S-9380 II #9197047

HITACHI S-9380 II Scanning Electron Microscope (SEM) 는 집중된 전자 빔을 사용하여 고배율로 미세 구조, 표면 및 입자의 고해상도 이미지를 생성하는 강력한 이미징 시스템입니다. HITACHI S9380 II는 디지털 마이크로그래프 이미지 처리 (Digital Micrograph Image Processing) 소프트웨어와 고감도 검출기 조합을 사용하여 다양한 흥미로운 이미지와 형태 정보를 감지하고 수집 할 수 있습니다. S-9380-II는 고급 공기 베어링 샘플 스테이지를 갖춘 초고해상도 이미징 시스템으로, 최대 10mm/s의 스캔 속도를 제공합니다. 이를 통해 나노 미터 레벨 간격을 가능하게하여 나노 미터 스케일 기능의 고해상도 이미징을 허용합니다. 또한 고속 스캔을 통해 S 9380 II는 이미지를 신속하게 수집하여 길고 지루한 스캔 시간을 최소화할 수 있습니다. S9380 II의 진공 챔버 (vacuum chamber) 에는 미크론 (micron) 에서 나노 미터 (nanometer) 까지 광범위한 이미지 기능을 수집 할 수있는 매우 민감한 검출기가 있습니다. 또한 HITACHI S 9380 II에는 자동 단계 포지셔닝, 자동 초점, 자동 이미지 처리, 2 차 전자 (SE) 이미지 자동 획득 등 다양한 자동 기능이 장착되어 있습니다. 이 기능을 사용하면 이미지를 빠르고 정확하게 수집하고 샘플에 대한 유용한 정보를 추출할 수 있습니다 (영문). S-9380 II는 디지털 마이크로그래프 이미지 처리 (Digital Micrograph Image Processing) 소프트웨어를 사용하여 이미지 향상, 자동 필터링 알고리즘 적용, 나노미터 스케일까지 정밀도로 기능을 측정할 수도 있습니다. HITACHI S-9380-II 및 디지털 처리 기능의 고급 이미지 처리 기능을 사용하면 고해상도 이미지를 수집하고, 피쳐를 측정하며, 자동 분석을 통해 통계 데이터를 생성할 수 있습니다. 이를 통해 HITACHI S-9380 II 는 SMB (Small Scale Feature) 에 대한 상세한 이미지를 얻으려는 연구자와 산업 사용자에게 강력한 툴로서, 샘플을 빠르고 정확하게 분석할 수 있습니다.