판매용 중고 HITACHI S-9380 II #9144987

HITACHI S-9380 II는 FESEM (Field Emission Scanning Electron Microscope) 으로, 재료 및 전자, 폴리머 및 생명 과학에 이르기까지 다양한 연구 응용 분야에서 고급 이미징 기능으로 유명합니다. 이 고해상도 이미징 기구 (high-resolution imaging instrument) 는 다양한 까다로운 전자 미세한 연구 응용프로그램을 위한 이상적인 도구로 설계된 다양한 고급 기능을 갖추고 있습니다. 첫째, HITACHI S9380 II 는 독보적이고 첨단 설계를 통해 뛰어난 유연성을 제공합니다. 대용량 인체 공학 콘솔 (Ergonomic Console) 이 있어 사용자가 쉽게 액세스 할 수 있습니다. 거대한 30cm 직경 샘플 챔버 (sample chamber) 는 또한 운영자가 표본에 쉽게 접근 할 수 있도록 허용합니다. 전용 열 (Dedicated column) 을 사용하면 광범위한 컴포지션을 사용할 수 있으며, 고도의 정밀도로 샘플 위치를 조정할 수 있습니다. S-9380-II는 또한 인상적인 광학 컬렉션을 자랑합니다. "고성능 반사 '와" 투과전자 광학' 을 탑재했고, 후자는 "전자탐사선 '의 모양과 크기를 더 많이 제어했다. 9mm 진공실은 가장자리에서 더 예리한 반응, 더 높은 가속 전압 및 '혼수 왜곡' 을 생성 할 수 있습니다. 이것은 내장 된 패러데이 크리스탈 (Faraday Crystal) 검출기와 결합하여 정확하고 빠른 이미징 기능을 제공합니다. S 9380 II는 뛰어난 해상도를 제공합니다. 2nm @ 30KV의 고해상도를 가지고 있습니다. 이 해상도는 확대 범위에서 최대 200 (최대 200) 까지 저하되지 않습니다. 보조 기능으로는 2 차 전자 검출기, EDX 검출기, ESEM 단계 및 자동 빔 포커싱 (Beam Focusing) 이 있으며, 이는 최대 해상도에서 전자 빔을 유지하는 데 도움이됩니다. 마지막으로, S9380 II는 최첨단 소프트웨어와 함께 제공되어 표본의 작동 및 분석을 더 쉽게 할 수 있습니다. 포괄적인 실시간 이미지 처리 (real-time imaging) 및 데이터 수정 (data corrections) 기능을 통해 데이터 수집 및 처리를 용이하게 하는 강력한 GUI (Graphical User Interface) 뿐만 아니라 최고 수준의 정확성을 유지할 수 있습니다. 또한, 소프트웨어는 시간을 절약하기 위해 기존 (pre-existing) 데이터의 광범위한 라이브러리로 보완됩니다. 결론적으로, HITACHI S 9380 II는 매우 뛰어난 스캐닝 전자 현미경으로, 뛰어난 이미징 성능으로 복잡한 연구 작업을 용이하게합니다. 광범위한 기능과 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 는 다양한 연구 응용프로그램을 위한 뛰어난 도구입니다.