판매용 중고 HITACHI S-9380 II #9095787

ID: 9095787
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2007
CD Scanning electron microscope, 12" 2007 vintage.
HITACHI S-9380 II는 표면 특징의 고해상도 이미징에 사용되는 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 첨단 기술을 통해 초고해상도 이미지를 캡처하고, 우수한 3차원 정보를 제공하여, 분석 응용프로그램에 유용한 툴이 됩니다. HITACHI S9380 II는 FEG (field emission electron gun) 와 뛰어난 이미지 품질을 생성하는 거울/렌즈 광학 장비를 갖추고 있습니다. 컴퓨터 제어 가속 전극 전압과 결합 된 페그 (FEG) 는 높은 해상도와 낮은 신호 (signal to noise) 를 가진 전자 빔을 생성하는 데 도움이됩니다. 광학 시스템의 최적화된 조정을 통해 미묘한 표면 (surface) 기능을 감지할 수 있으며 EDX와 같은 표준 이미징 및 분석 이미징 (analytical imaging) 을 모두 사용할 수 있습니다. S-9380-II 는 최대 200,000 배의 이미지를 캡처할 수 있으며, 광범위한 어플리케이션을 위한 저역량 (low-staining) 및 고대비 이미징 기능을 모두 갖추고 있습니다. 또한 스몰 샘플 스테이지 (smal sample stage) 가 있는데, 이는 작고 섬세한 샘플을 이미징하는 데 이상적입니다. 이 제품은 여러 이미지를 캡처할 수 있는 CDP (Continuous Digital Imaging Unit) 를 갖추고 있으며, 이미지 성능 저하를 줄이기 위한 완전 자동 클리닝 머신을 갖추고 있습니다. 이 현미경은 또한 라이브 샘플 인터페이스 (live sample interface) 를 제공하여 컨트롤러가 중단 없이 이미징 결과를 관찰하고 제어 할 수 있습니다. 고해상도 이미지를 더 빠르게 캡처할 수 있는 고유한 고속 스캔 컨트롤러와 3D 측정 및 표면 피쳐 판별 이미지 처리 (image processing) 및 분석 도구 (analysis tools for 3D measurement and surface feature feature determination) 를 갖추고 있습니다. 또한 S9380 II는 사용자에게 친숙한 자동 인터페이스 및 원격 제어 기능을 제공합니다. "카메라 '는" 워크스테이션' 에 연결 되어 융통성 있는 데이터 관리 와 액세스 를 가능 케 하고 안정적 이고 안전 한 작동 을 보장 해 준다. 전반적으로 HITACHI S 9380 II는 다양한 분석 어플리케이션에 적합한 고급 (advanced) 기술을 사용하여 탁월한 이미지를 캡처하도록 설계된 강력하고 강력한 SEM입니다.
아직 리뷰가 없습니다