판매용 중고 HITACHI S-9380 II #9095786

HITACHI S-9380 II Scanning Electron Microscope (SEM) 는 나노 과학, 재료 과학 및 반도체 연구 응용을 위해 설계된 고급 장비입니다. 이 제품은 수 밀리미터 (Mmm) 에서 갤러리 (Gallery) 까지 폭넓은 배율을 제공하며, 이미지 품질이 우수한 이미징 해상도를 가능하게 하며, 나노미터 수준에서 EDX와 같은 차세대 고성능 마이크로 분석 (Microanalysis) 을 제공합니다. 최첨단 에너지 필터는 효율적인 반 정량 원소 분석을 위해 통합되어 나노 (nano) 도메인의 재료 연구에 결정적인 이점을 제공합니다. 이 시스템은 확장 진공실 (enhanced vacuum chamber) 을 갖추고 있으며, 더 큰 운영 기능을 갖추고 있어 다양한 어플리케이션에서 정확하고 안정적인 환경을 제공합니다. 견고성 강화 (rugged) 구조는 고해상도 현미경 작동의 어려운 조건에서도 지속되도록 설계되었습니다. HITACHI S9380 II는 CFE (Cold-field Emission Electron Gun) 소스를 장착하여 이미지 품질을 높이기 위해 고휘도 전자 빔을 제공합니다. 매우 민감한 디지털 영상 장치는이 Scanning Electron Microscope의 중요한 특징입니다. 그 해상도는 동급 다른 SEM의 해상도를 초과하여 마이크로 및 나노 구조의 상세한 이미징을 가능하게합니다. 빠른 디지털 이미징 머신으로 넓은 영역을 빠르고 효과적으로 스캔할 수 있습니다. EDX 및 EBSD와 같은 고급 분석 기능은 원소 분포 및 결정 학적 구조의 정밀 매핑 및 이미징을 위해 포함됩니다. S-9380-II에는 소형 샘플을 적재 할 때 더 편리하게 wafer 홀더가 장착되어 있습니다. 메모리 도구 (Memory Tool) 는 최대 2,000 개의 이미지를 저장할 수 있으므로 확대율이 낮아도 이전 이미지를 빠르게 불러올 수 있습니다. 전자 인터페이스 (Electronic Interface) 기능을 통해 개인용 컴퓨터에 연결하여 현미경의 고급 컴퓨터 제어 기능을 사용할 수 있습니다. S9380 II는 또한 사용자 편의성과 편의성을 위해 설계되었습니다. 7 인치 LCD 디스플레이는 이미지를 명확히 보여주므로, 빠르고 쉽게 탐색할 수 있습니다. 인체 공학적 설계를 통해 모든 S-9380 II 구성 요소에 쉽게 액세스할 수 있습니다. 레이저 자동 초점, 자동 초점 이온 빔 시스템, 자동 단계 (automated stage), 데이터 획득, 자동 단계 (automated stage), 이미지 데이터 처리 장비 등 다양한 보조 구성 요소를 사용하여 복잡한 측정과 작업을 보다 쉽고 빠르게 수행할 수 있습니다. HITACHI S 9380 II는 인상적인 기능과 탁월한 성능을 바탕으로 나노미터 (nanometer) 도메인에서 재료와 구조에 대한 가장 정교한 심층적 분석을 제공할 수 있습니다. 이것은 자산을 나노 과학, 재료 과학 및 반도체 연구 응용을위한 이상적인 도구로 만듭니다. 나노 미터 수준의 해상도 이미징 (imaging) 및 분석 기능을 통해 전 세계 연구원들의 첫 번째 선택입니다.