판매용 중고 HITACHI S-9360 #9127754

HITACHI S-9360 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 STEM 이미징 및 초고해상도 이미징을 위해 설계된 고성능 이미징 및 분석 시스템입니다. 고출력 FE-SEM 렌즈 (FE-SEM Lens) 기술을 통해 뛰어난 해상도와 수심 (Depth-of-field) 을 낮은 작동 전압과 결합하고 다양한 어플리케이션에 대한 이미징 기능을 최대화합니다. 쇼트키 (Schottky) 현장 배출 기술 (Field Emission Technology) 을 사용하여 뛰어난 해상도와 현장 심도를 제공하여 다양한 샘플 크기를 이미징하는 데 이상적입니다. HITACHI S9360에는 샘플 준비 (Sample Preparation) 섹션의 기울기, 회전 및 다양한 샘플을 위한 다중 스택 샘플 단계가 있습니다. 이를 통해 사용자는 왜곡없이 반도체, 연약한 표본과 같은 얇은 샘플을 분석 할 수 있습니다. 또한, 열전 방출 기와 같은 여러 전자 점 (electron point source) 은보다 정확한 표면 검사를 지원합니다. 이미징 (Imaging) 섹션에서 사용자는 빔 감속 장치를 사용하여 전자 빔 가속 전압 (electron beam acceleration voltage) 을 줄이고 표면과 지하 영상을 구별하고 표본을 기울여 고해상도 단층 이미지를 얻을 수 있습니다. S 9360에는 뛰어난 이미징 기능 외에도 EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) 검출기가 장착되어 있습니다. 이를 통해 사용자는 모든 샘플의 화학 특성을 결정할 수 있으며, 이는 원소 매핑, 산화 상태, 위상 분석 (phase analysis) 등 다양한 응용 프로그램에 사용됩니다. 또한, 고급 분석 기능은 데이터를 올바르게 보장하고 신속하게 결과를 제공합니다. 여기에는 HITACHI EDX Quant Semi-Quantitative 소프트웨어가 포함됩니다. HITACHI EaseMap 소프트웨어는 분석 된 샘플에서 여러 요소의 정확하고 자동화된 매핑을 제공하는 HITACHI EaseMap 소프트웨어뿐만 아니라 요소의 자동 결정 및 정확한 X-ray 정량 분석을 제공합니다. 또한 S9360은 장기적인 안정성과 재현 가능한 운영을 위해 완전한 자동화를 제공합니다. 이 자동화를 통해 모든 이미징 및 분석 기능에 대한 설정/제어는 물론, 자동화된 매개변수 최적화 (parameter optimization) 를 수행할 수 있습니다. S-9360 (S-9360) 은 첨단 과학을위한 강력하고 신뢰할 수있는 도구이며, 우수한 이미징 및 분석 기능의 조합으로 재료 과학, 생물학적, 생의학, 반도체 장치 및 MEMS 기술에 이르기까지 다양한 응용 분야에 이상적인 선택입니다. 표본 내에서 피쳐를 시각화하는 데 이상적인 도구이며, 다양한 표본 (size) 과 표본 (simimen) 유형에 대해 소중하고 정확한 정보를 얻을 수 있는 탁월한 분석 기능을 제공합니다.