판매용 중고 HITACHI S-9300 #293592591

HITACHI S-9300은 고해상도 이미징과 낮은 작동 비용을 결합한 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 고장 분석 (failure analysis), 부식 연구 (부식 연구), 재료 특성화 (material characterization), 반도체 소자 테스트 (semiconductor device testing) 등 다양한 애플리케이션에 대해 고품질 이미지를 제작할 수 있습니다. HITACHI S9300에는 기존 SEM에 비해 다양한 이점을 제공하는 새로운 합금-광학 열이 있습니다. 여기에는 고해상도, 뛰어난 빔 안정성, 초광역 작동 거리 및 작은 빔 수렴 각도가 포함됩니다. 뛰어난 광학 (Optics) 은 뛰어난 선명도와 정밀도의 이미지를 생성하며, 넓은 작업 거리를 통해 더 큰 샘플을 스캔하고 더 넓은 시야 (Field Of View) 를 만들 수 있습니다. 또한 S 9300에는 SEM 오브젝티브 렌즈와 디지털 카메라 사이의 지속적인 작동을 유지하는 새로 설계된 디지털 광 (photo-optical) 시스템이 있습니다. 이를 통해 표본 깊이 (ADF) 및 총 확대 (TM) 값과 같은 샘플 매개변수를 빠르고 정확하게 결정할 수 있습니다. 이 시스템의 3 차원 이미징 기능은 또한 올림 (raised) 또는 불규칙한 (불규칙한) 모양으로 샘플의 이미지를 캡처할 때 뛰어난 유연성을 제공합니다. S-9300에는 5x10-7 Pa (0.5 torr) 의 진공을 생성 할 수있는 진공실이 있습니다. 이는 부식에 대한 고해상도 연구 (high-resolution studies) 또는 고가치 재료 식별 (identification of high-value materials) 과 같은 상황에서 고정밀 이미징에 빌려줍니다. 방은 또한 높은 수준의 비활성 대기 제어를 달성 할 수 있으며, 부식 연구 또는 전자 단층 촬영 (electron tomography) 을 위해 중단 된 애니메이션 하에서 살아있는 표본의 이미징에 이상적입니다. HITACHI S 9300은 샘플 크기 S에서 4x4mm, 샘플 크기 M에서 2.5 x 2.5mm (FOV) 의 대용량 고해상도 이미징 광시야각 (FOV) 을 갖추고 있습니다. 샘플을 관찰하면서 정확한 이동이 가능한 유연한 수동 스캔 컨트롤과 내장 조이스틱도 갖추고 있습니다. S9300은 뛰어난 이미징 성능과 유연성을 제공하는, 신뢰할 수 있는 사용자 친화적인 SEM입니다. 고해상도 및 디지털 사진 광학은 고장 분석, 부식 연구, 재료 특성, SEM 장치 테스트 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 진공실 및 비활성 대기 제어 기능은 고급 이미징 연구에 추가 가능성을 제공합니다. 저조한 운영 비용 (SEM) 도 경쟁사 SEM과 비교할 때 매력적이며, 많은 실험실에서 실행 가능한 선택입니다.