판매용 중고 HITACHI S-9280 #9200123

HITACHI S-9280 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 나노 및 마이크로 스케일에서 물질을 자세히 연구 할 수있는 강력한 분석 도구입니다. 첨단 전자광학 (Electron Optic) 과 자동 (Automated) 기능을 통해 뛰어난 이미지 처리, 감지 및 측정 기능을 제공하는 탁월한 해상도를 제공합니다. S-9280 SEM은 스캐닝 전자 빔을 사용하여 분석 샘플의 결정 구조에 대한 자세한 3D 이미지를 얻습니다. 카운터 바이어스 이미징 기술이 적용되어 전자 빔이 샘플을 통과하면서 -500V (-500V) 와 -5kV (-5kV) 사이의 음의 바이어스를 제공 할 수 있습니다. 이를 통해 기존 SEM 시스템에 비해 대비가 향상된 고해상도 이미지를 수집할 수 있습니다. HITACHI S-9280 (HITACHI S-9280) 은 에너지 분석기로서 기능하는 멀티 모드 검출기를 장착하여 샘플과 전자 빔 사이의 전류 상호 작용의 다른 특성을 기반으로 이미지를 생성합니다. 이를 통해 금속, 반도체, 폴리머, 도자기 등 다양한 물질을 분석 할 수 있습니다. S-9280은 EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) 를 사용하여 매우 민감한 원소 구성 분석을 제공합니다. 조정 가능한 샘플 암 (sample arm) 에 EDS 유닛을 장착하여 최적의 성능을 위해 포지셔닝할 수 있습니다. 이 시스템을 통해, 사용자는 검출 한계가 10ppm 이하인 샘플의 원소 구성을 빠르고, 정확하게 특성화할 수 있습니다. HITACHI S-9280 의 저진공 테이블 (low-vacuum table) 은 최적의 스캔 기능을 위해 설계되었으며, 기존 또는 저진공 모드로 작동 할 수 있습니다. 2 차 전자 검출기를 사용하면 저진공 (low-vacuum) 모드를 사용하여 더 높은 명암과 해상도의 이미지를 얻을 수 있습니다. 선택한 영역의 구조를 분석하기 위해 S-9280 은 광범위한 이미징 (image) 및 측정 기능을 제공합니다. 자동화된 인터페이스를 통해 사용자는 샘플 두께 (sample thickness), 서피스 영역 지형 (surface area topography), 결정 구조 (crystal structure), 입자 크기 (particle size) 등을 초 단위로 측정할 수 있습니다. 또한 옵션 인-열 광학 구성 요소를 통해 광학 이미지를 얻을 수도 있습니다. HITACHI S-9280 의 첨단 제어 소프트웨어를 사용하면 데이터를 손쉽게 캡처, 분석, 저장할 수 있습니다. 또한 기기의 원격 제어 (remote control) 를 허용하여 원격 액세스 및 데이터 공유가 가능합니다. 요약하면, S-9280 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 샘플의 구조를 정확하고 빠르게 분석 할 수있는 강력한 기능을 갖춘 뛰어난 이미징 도구입니다. "나노 '와" 마이크로스케일' 의 연구 분야 에서 귀중 한 도구 가 되므로, 자동화 된 특징 과 기능 을 통해 각기 다른 재료 의 특징 을 대폭 단순화 하고 가속화 할 수 있다.