판매용 중고 HITACHI S-9220 #9151232

HITACHI S-9220 은 SEM (High-End Scanning Electron Microscope) 장비로, 다양한 연구 및 실험실 응용 분야에서 탁월한 성능을 제공하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 고해상도 분석 이미징 기능을 가지고 있으며 SEI (secondary electron imaging) 및 BEI (backscatter electron imaging) 를 포함한 다양한 대비 모드에서 뛰어난 성능을 제공 할 수 있습니다. 이 장치에는 최대 250mm 의 시야와 최대 500,000 배율 (FOV) 의 넓은 시야가 있습니다. HITACHI S9220에는 강력한 전자 총이 장착되어 있으며, 최대 0.2 miliAmp의 가변 빔 전류를 가진 고에너지 전자 빔을 생성합니다. 이 고에너지 빔은 뛰어난 디테일로 샘플의 최적의 이미지를 생성하는 데 사용됩니다. 이 기계는 또한 강력한 백스캐터 (backscatter) 탐지기 (detector) 를 장착하여 공구가 들어오는 방사선을 정확하게 읽고 명확하고 상세한 이미지를 제공 할 수 있습니다. S 9220 은 또한 견고한 샘플 스테이지 (sample stage) 를 갖추고 있어 포지셔닝과 관련하여 유연성을 극대화할 수 있습니다. 이 단계에서는 스테이지 각도의 수동/자동 제어, 샘플 기울기/회전, 샘플 확대/축소 등 고정밀 샘플 조작이 가능합니다. 자산은 또한 이미징 최적화를 위해 샘플 위치를 자동으로 조정하기 위해 프로그래밍될 수있는 고급 자동화 기술 (Advanced Automation Technology) 을 갖추고 있어 능률적이고 효율적인 작동이 가능합니다. S9220에는 샘플 이미지의 고정밀 분석을위한 기능도 있습니다. 여기에는 높은 동적 범위 이미징, 자동 평가 절차, 거리 측정, 필드 매핑 등의 측정 기능이 포함됩니다. 또한, 이 모델에는 샘플 데이터 (sample data) 에 관한 상세한 보고서를 제공할 수 있는 고급 분석 소프트웨어 (analytical software) 패키지가 장착되어 있으며, 이 소프트웨어를 통해 최적의 이미징 조건에 대한 이미징 조건을 사용자가 사용자 정의할 수 있습니다. 일반적으로 HITACHI S 9220 은 하이엔드 SEM 장비로, 다양한 이미징 및 분석 요구 사항에 적합한 탁월한 성능을 제공합니다. 이 시스템은 매우 자동화되어 있어, 샘플 데이터를 효율적으로 작동하고 효율적으로 분석할 수 있습니다. S-9220 (S-9220) 은 다양한 기능을 통해 연구 및 실험실 환경에서 사용하기에 적합하며, 연구원들과 과학자들에게 고급 이미징 및 분석을위한 강력한 도구를 제공 할 것입니다.