판매용 중고 HITACHI S-9220 #293618043

HITACHI S-9220은 표면 분석, 나노 스케일의 이미징 및 측정 기능뿐만 아니라 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 다용도 SEM 은 기존의 고해상도 (high resolution) 과 낮은 진공 회수 (vacuum capture) 및 이미징 (imaging) 모드에서 작동하여 광범위한 애플리케이션을 수행할 수 있습니다. HITACHI S9220 (HITACHI S9220) 에는 고정밀 마이크로 채널 플레이트 검출기로 전자의 빔을 생성 할 수있는 스캐닝 전자 빔 기둥이 있습니다. 이를 통해 최대 10 만 배의 고해상도 이미지를 제작할 수 있습니다. 반자동 초점 장비 (semi-auto-focusing equipment) 와 풀 이미징 시스템 (full-imaging system) 을 사용하여 다양한 샘플 표면과 두께를 통해 자세한 이미지를 캡처할 수 있습니다. SEM은 에너지 분산 x- 레이 (EDX) 장치를 사용하여 최대 15 keV의 높은 해상도로 샘플을 정량적으로 분석 할 수 있습니다. 이를 통해 요소 매핑 (elemental mapping) 및 위상 분석 (phase analysis) 을 수행할 수 있으며, 샘플의 작성에 대한 정확한 정보를 사용자에게 제공합니다. 또한 EDX 기계는 샘플의 화학적, 구조적 특성에 대한 자세한 정보를 제공합니다. S 9220 은 또한 넓은 시야와 고해상도 이미징 (high resolution imaging) 으로 결함 분석을 위한 마이크로 분석을 수행할 수 있습니다. 이 장치에는 반복 가능한 이미징 및 측정이 가능한 자동 위치 지정 도구 (automatic positioning tool) 와 확장된 명암을 위한 고대비 디지털 이미징 에셋 (high contrast digital imaging asset) 이 장착되어 있습니다. HITACHI S 9220은 렌즈 어레이, 마이크로 조작기, 현미경 램프 지원 모델, 모니터 등 다양한 액세서리와 호환됩니다. 모니터 (monitor) 는 매개변수를 수동으로 입력하지 않아도 되는 모든 관련 데이터를 자동으로 표시하며, 원격 작업 및 제어를 허용할 수도 있습니다. S-9220 은 Class 10,000/ISO 4 Clean Room Equipment 로 분류되어 광범위한 애플리케이션 및 환경에서 작동할 수 있습니다. 이 SEM은 샘플의 고감도, 고해상도 이미징 및 원소 분석에 이상적입니다. 지질학, 재료 과학, 반도체, 의학 등 다양한 산업에서 사용할 수 있습니다.