판매용 중고 HITACHI S-9200 #9170207

HITACHI S-9200 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 서브 미크론 수준에서 고체 표본의 표면을 이미징 및 분석하기 위해 설계된 고정밀 도구입니다. 재료 분석, 고장 분석, 고장 감지, 리버스 엔지니어링 등 다양한 연구 개발 (Research and Development) 애플리케이션에 사용할 수 있습니다. 이 장치는 독특한 전자 광학 설계 (electron optics design) 로 인해 고해상도 이미징 및 뛰어난 표면 감도를 제공합니다. HITACHI S 9200은 비대칭 정전기 렌즈를 사용하여 더 큰 u 필드를 형성하여 초점 깊이가 짧고 해상도가 높습니다. 이 장비는 또한 여러 보조 전자 검출기 및 X 선 검출기 (X-ray detector) 를 포함한 다양한 검출기 시스템을 갖추고 있으며, 다양한 응용 분야에서 고정밀 이미징을 가능하게합니다. S-9200에는 강력한 스캐닝 시스템 (Scanning System) 이 장착되어 있어 최대 300mm 너비의 표본 영역을 검사할 수 있습니다. 따라서 이 장치는 처리량이 많은 재료 분석 (How-throughput materials analysis) 및 대형 컴포넌트의 리버스 엔지니어링 (reverse engineering) 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 이 장치에는 또한 저진공 챔버 (low-vacuum chamber) 가 있으며, 이는 샘플 보존과 고감도 재충전 검출기 (high-sensitivity recharge detector machine) 를 보장하여 다른 SEM에서 이미징 할 수없는 샘플을 분석 할 수 있습니다. S 9200 은 사용하기 쉽고, 직관적인 제어 소프트웨어를 통해 다양한 기능을 쉽게 액세스할 수 있습니다. 광범위한 이미지 처리 및 데이터 분석 툴을 통해 사용자는 이미지를 실시간으로 보고, 측정하고, 수정할 수 있습니다 (영문). 또한 단계별 자동화 (옵션) 및 전체 자동화 기능 (total automation function) 이 포함되어 있어 여러 샘플을 빠르고 정확하게 측정해야 하는 사용자에게 도움이 될 수 있습니다. 전반적으로, HITACHI S-9200은 고해상도 이미징 및 뛰어난 표면 감도를 제공하는 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 강력한 기능과 직관적인 인터페이스 (interface) 는 재료 분석 (material analysis) 에서 리버스 엔지니어링 (reverse engineering) 에 이르기까지 다양한 분야의 연구자와 엔지니어들에게 적합한 선택입니다.