판매용 중고 HITACHI S-8840 #9299018

HITACHI S-8840 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 고해상도 확대된 물체의 이미지를 제공합니다. 매우 높은 배율과 해상도 (resolution) 에서 샘플을 검사하는 데 사용될 수 있으며, 특히 연구 응용에 적합합니다. SEM (High-Magnification Field Emission Gun) 을 장착하여 개별 전자의 신호를 감지 할 수 있습니다. 이는 고품질 및 해상도의 이미지를 보장합니다. HITACHI S8840 은 전용 컴퓨터 제어판에 연결되며, 이를 통해 사용자는 배율, 픽셀당 전자, 기타 매개변수를 제어할 수 있습니다. 이 시스템에는 DM (Digital Microscope) 이미지 처리, ADI (Automatic Defect Inspection) 및 DOP (Digital Optimization Processing) 와 같은 고급 기능을 통해 최고의 이미지 품질을 만들 수있는 전용 소프트웨어 패키지도 장착되어 있습니다. S 8840 은 사용자에게 친숙한 작업과 높은 처리 시간을 제공하는 디스플레이 크기 토크 제어 (torque control) 기능을 제공합니다. 미세 제어 기능은 또한 정확한 샘플 제어를 지원합니다. SEM은 정상, 저 진공 또는 자외선 모드로 작동 할 수 있으며, 전류, 전압, 가속 전압의 값을 미세 조정 이미지 품질 및 해상도로 변경할 수 있습니다. S8840에는 샘플의 원소 조성을 정량적으로 분석 할 수있는 통합 에너지 분산 X-Ray 분광학 검출기가 있습니다. 이것은 연구 및 NDT (non-destructive testing) 응용 프로그램에 이상적입니다. HITACHI S 8840은 매우 다재다능한 현미경으로, 비접촉 원자력 현미경, 접촉 모드 원자력 현미경, 임피던스 현미경, 주사 근거리 광학 현미경 등과 같은 다양한 기술을 수행 할 수 있습니다. S-8840 은 신뢰성과 사용 편이성 (use-of-use) 을 높이 평가받아 광범위한 연구/상용 애플리케이션을 위한 최적의 선택입니다. 최고 수준의 화질과 정확한 샘플 분석 (sample analysis) 을 추구하는 전문가에게 탁월한 선택입니다.