판매용 중고 HITACHI S-8840 #9211128

HITACHI S-8840 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 다양한 분야에서 연구 및 품질 보장에 사용할 수있는 다용도 및 사용자 친화적 분석 도구입니다. 이 SEM은 마이크로 그래프 및 3D 지형 측정을 포함하여 나노 스케일의 재료를 분석하는 데 이상적입니다. 그것은 15cm 챔버로 다양한 기능과 고해상도 이미징 (high resolution imaging) 을 제공하여 섬세한 미세 구조를 면밀히 조사 할 수 있습니다. HITACHI S8840 은 다양한 운영, 이미징 모드를 지원하는, 다양한 탐지기, 렌즈, 단계를 갖추고 있습니다. 낮은 배율과 다양한 무대 이동 (stage movement) 은 다양한 표본의 편리하고 정확한 측정을 제공합니다. 고해상도 이미징 기능과 다목적 표본 처리를 통해 샘플을 자세히 연구할 수 있습니다 (영문). S 8840 (S 8840) 에는 표준 사진 어댑터도 포함되어 있으며, 이미지를 기록하고 저장하거나, 프로세스 또는 표본을 촬영하는 옵션을 제공합니다. S-8840에는 최신 스캐닝 전자 현미경 기술과 내장 함수 (수동 진동 격리, 자동 초점 및 자동 표본 적재 및 언로드 포함) 가 장착되어 있습니다. 리모콘 (Remote Control), 자동 초점 (Autofocus), 이미지 스티칭 (Image Stitching) 및 이미지 프로세싱 (Image Processing) 과 같은 사용자 친화적인 기능을 통해 빠르고 효율적으로 작업을 수행할 수 있습니다. 이 SEM 시스템은 또한 비디오, 디지털, XY 레코더 및 아날로그를 포함한 다양한 신호 출력을 자랑합니다. 이를 통해 원소 매핑 (elemental mapping) 및 초저전압 이미징을 포함하여 광범위한 분석을 통해 비전도 표본을 시각화합니다. 기울기 단계, 적외선 카메라, 가변 압력 시스템, 전자 빔 리소그래피 등의 추가 구성 요소가 많은 기능을 수행합니다. 요약하자면 HITACHI S 8840 Scanning Electron Microscope는 다양하고 사용하기 쉬운 시스템입니다. 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 을 제공하여 나노 스케일에서 섬세한 샘플을 면밀히 검사 할 수 있습니다. 다용도와 효율성을 향상시키는 내장 편의성 및 기능도 포함되어 있습니다. 이 데스크탑 SEM은 다양한 유형의 연구/품질 보증 어플리케이션에 적합한 선택입니다.